[实用新型]双能探测器及辐射检查系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及辐射检查领域，尤其涉及一种双能探测器及辐射检查系统。

背景技术

在现有的辐射检查系统中，位于系统一侧的射线源发射出来的射线束经过准直器后会形成“扇形”束流面，探测器模块位于系统的另一侧，在射线源和探测器模块之间为被检物体。如图1所示，射线源a1发射的射线束a5经过被检物体a2后，射向探测器模块安装架a3上的多个探测器模块a4。现有的探测器模块通常由一定数量的高能、低能探测器阵列组成，所有的探测器模块都朝向射线源点。

对于双能探测器来说，如图2所示，低能探测器阵列a41和高能探测器阵列a45一般设置为前和后的位置关系。其中低能探测器阵列a41位于靠近射线源a1的一侧，而高能探测器阵列a45则设置在远离射线源a1的一侧。射线束a5先经过低能探测器阵列a41后，再到达高能探测器阵列a45。低能探测器阵列a41相对吸收低能射线束的能量多一些，高能探测器阵列a45相对吸收高能射线束多一些，最后解析这两种信号，得到被检物质的有效原子序数的信息。在低能探测器阵列a41的后侧设有光电二极管a42和印刷电路板a43，在高能探测器阵列a45的后侧设有光电二极管a46和印刷电路板a47。在使用时，低能探测器阵列a41除了采集低能信号之外，还通过滤波片a44来承担高能探测器阵列a45的滤波功能。

这种现有的双能探测器的结构目前较为通用，在具体实现中存在以下问题：

1、每个探测器模块安装位置都有固定的朝向，该朝向指向射线源靶点，设计比较复杂，安装调试较为困难，且若整体几何发生变化(如射线源调整位置)，则整个探测器模块安装架需要重新设计。此外，为了能够稳定的安装探测器模块，探测器模块安装架需要做的比较厚，在安装和使用方面较为不便。

2、探测器模块之间过度不平滑，边缘模块边缘的探测器容易受散射干扰。

3、低能探测器阵列的灵敏介质可供选择的范围有限，并非理想的滤波材料。对于低能探测器阵列来说，其后侧的光电二极管的面积一般会小于低能探测器阵列的面积，但与低能探测器的灵敏面积不太匹配。

4、实际使用中，探测器模块处的射线束流宽度很难约束到一个探测器灵敏面积的宽度，一般会大大超过单一探测器阵列宽度，带来额外的辐射防护压力。

实用新型内容

本实用新型的目的是提出一种双能探测器及辐射检查系统，能够使双能探测器的安装和使用更加便利。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种双能探测器，包括：探测器模块安装架和多个探测器模块，所述探测器模块包括高能探测器阵列和低能探测器阵列，所述高能探测器阵列与所述低能探测器阵列相对于所述探测器模块安装架上的同一安装平面并列设置。

进一步地，每个所述探测器模块中的所述高能探测器阵列与所述低能探测器阵列相互邻接设置。

进一步地，多个所述探测器模块在所述探测器模块安装架上的同一安装平面上邻接设置。

进一步地，所述多个所述探测器模块在所述探测器模块安装架上沿直线顺序排列。

进一步地，多个所述探测器模块在所述探测器模块安装架上的安装平面上设置为多排，各排所述探测器模块平行邻接设置。

进一步地，所述高能探测器阵列和/或所述低能探测器阵列中包括的各个探测器单元之间设有重金属隔离片。

进一步地，所述高能探测器阵列上靠近射线源的一侧还设有滤波片。

进一步地，所述高能探测器阵列的灵敏介质的密度高于所述低能探测器阵列的密度，和/或所述高能探测器阵列的灵敏介质的有效原子序数高于所述低能探测器阵列的有效原子序数。

进一步地，所述低能探测器阵列的灵敏介质的闪烁效率高于所述高能探测器阵列。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种辐射检查系统，包括前述的双能探测器。

基于上述技术方案，本实用新型在探测器模块安装架上对探测器模块中的高、低能探测器阵列相对于同一安装平面按照并列方式进行设置，这种结构可以简化高、低能探测器阵列所连接的光电二极管和印制电路板的布置，使得探测器模块安装架的必要厚度尺寸降低，从而使本实用新型双能探测器的安装和使用更加便利。另一方面，相比于现有双能探测器在接收射线源照射时射线束需要先穿过低能探测器阵列再到达高能探测器阵列的形式，本实用新型中射线束可以独立地照射到互相并列的高、低能探测器阵列，这就一定程度上降低了高、低能探测器阵列在选型时的相互制约。

附图说明