[实用新型]一种自动测试芯片的装置有效

专利信息
申请号: 201621475098.7 申请日: 2016-12-30
公开(公告)号: CN206321757U 公开(公告)日: 2017-07-11
发明(设计)人: 陈启俊;江典棋;刘伟城;王宗彪;翁志伟 申请(专利权)人: 福州福大海矽微电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 福州市博深专利事务所(普通合伙)35214 代理人: 林志峥
地址: 350000 福建省福州市鼓楼区*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 自动 测试 芯片 装置
【权利要求书】:

1.一种自动测试芯片的装置,其特征在于,包括微控制器、待测芯片、电流检测模块、第一显示模块和模拟开关芯片;

所述电流检测模块的一端与所述待测芯片连接,另一端与所述微控制器连接;

所述模拟开关芯片的一端与所述待测芯片连接,另一端与所述微控制器连接;

所述第一显示模块与所述待测芯片连接。

2.根据权利要求1所述的自动测试芯片的装置,其特征在于,还包括电阻调节电路和电容调节电路;

所述电阻调节电路和所述电容调节电路分别与所述待测芯片连接。

3.根据权利要求1所述的自动测试芯片的装置,其特征在于,还包括第二显示模块和温湿度传感器;

所述第二显示模块和所述温湿度传感器分别与所述微控制器连接。

4.根据权利要求1所述的自动测试芯片的装置,其特征在于,还包括红外传感器;

所述红外传感器与所述微控制器连接。

5.根据权利要求1所述的自动测试芯片的装置,其特征在于,还包括蜂鸣器;

所述蜂鸣器与所述微控制器连接。

6.根据权利要求1所述的自动测试芯片的装置,其特征在于,还包括时钟模块;

所述时钟模块与所述微控制器连接。

7.根据权利要求1所述的自动测试芯片的装置,其特征在于,还包括上位机;

所述上位机与所述微控制器连接。

8.根据权利要求1所述的自动测试芯片的装置,其特征在于,还包括键盘扫描电路;

所述微控制器通过所述键盘扫描电路与所述键盘连接。

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