[实用新型]一种自动测试芯片的装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试领域，尤其涉及一种自动测试芯片的装置。

背景技术

传统的芯片测试方法为手动测试，当待测芯片为由外部设备的输入信号触发对应功能的芯片时，手动测试需按压所有与待测芯片的功能对应的按键，易漏测，效率低下且难以进行批量测试。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：本实用新型提供一种自动测试芯片的装置，实现自动测试由外部设备的输入信号触发对应功能的芯片。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：

本实用新型提供一种自动测试芯片的装置，包括微控制器、待测芯片、电流检测模块、第一显示模块和模拟开关芯片；

所述电流检测模块的一端与所述待测芯片连接，另一端与所述微控制器连接；

所述模拟开关芯片的一端与所述待测芯片连接，另一端与所述微控制器连接；

所述第一显示模块与所述待测芯片连接。

本实用新型的有益效果在于：本实用新型所指的待测芯片可根据获取到的外部输入设备的信号执行对应的功能，并将执行结果通过显示设备显示。通过所述微控制器控制所述模拟开关芯片的控制端的电压，模拟所述待测芯片获取到按键信号，从而实现自动测试与各按键对应的功能。此外，还可通过同时控制多个模拟开关芯片的输入端和输出端的通断，实现自动测试组合键对应的功能。当所述待测芯片执行与模拟开关芯片模拟的按键信号对应的功能时，电流检测模块检测待测芯片输出端的电流是否大于预设的工作电流阈值，从而检测该待测芯片工作时电气特性的稳定性。

附图说明

图1为本实用新型提供的自动测试芯片的装置的具体实施方式的结构图；

图2为本实用新型提供的自动测试芯片的装置的具体实施方式的进一步结构图；

标号说明：

1、微控制器；2、待测芯片；3、电流检测模块；4、第一显示模块；5、模拟开关芯片；6、电阻调节电路；7、电容调节电路；8、第二显示模块；9、温湿度传感器；10、红外传感器；11、蜂鸣器；12、时钟模块；13、上位机；

14、键盘扫描电路。

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

本实用新型最关键的构思在于：通过模拟开关芯片模拟按键输入信号，从而实现自动测试由外部设备的输入信号触发对应功能的芯片。

请参照图1及图2，

本实用新型提供一种自动测试芯片的装置，包括微控制器1、待测芯片2、电流检测模块3、第一显示模块4和模拟开关芯片5；

所述电流检测模块3的一端与所述待测芯片2连接，另一端与所述微控制器1连接；

所述模拟开关芯片5的一端与所述待测芯片2连接，另一端与所述微控制器连接1；

所述第一显示模块4与所述待测芯片2连接。

进一步地，还包括电阻调节电路6和电容调节电路7；

所述电阻调节电路6和所述电容调节电路7分别与所述待测芯片连接。

由上述描述可知，支持调整输入输出引脚和通信引脚的电阻及电容。

进一步地，还包括第二显示模块8和温湿度传感器9；

所述第二显示模块8和所述温湿度传感器9分别与所述微控制器1连接。

由上述描述可知，所述第二显示模块显示所述温湿度传感器获取到的测试环境参数，便于调整测试环境至待测芯片所需的状态。

进一步地，还包括红外传感器10；

所述红外传感器10与所述微控制器1连接。

由上述描述可知，所述微控制器通过所述红外传感器接收红外发射装置发送的信号，实现通过红外发射装置向微控制器发送命令。

进一步地，还包括蜂鸣器11；

所述蜂鸣器11与所述微控制器1连接。

由上述描述可知，在自动测试待测芯片的过程中，所述微控制器检测到异常情况时，触发所述蜂鸣器发出警报，以提醒测试人员。

进一步地，还包括时钟模块12；

所述时钟模块12与所述微控制器1连接。

由上述描述可知，能实时记录测试时间，便于数据整理及保存。

进一步地，还包括上位机13；

所述上位机13与所述微控制器1连接。

由上述描述可知，实现在上位机上操作芯片测试，提供预览窗口实时显示测试数据，并根据测试数据自动生成测试报告，包括测试人员、时间、型号、电气参数等。