[实用新型]一种测试头有效

专利信息
申请号: 201621476438.8 申请日: 2016-12-30
公开(公告)号: CN206331088U 公开(公告)日: 2017-07-14
发明(设计)人: 陈竞豪 申请(专利权)人: 珠海艾派克微电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京汇思诚业知识产权代理有限公司11444 代理人: 王刚,龚敏
地址: 519075 广东省珠*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试
【权利要求书】:

1.一种测试头,其特征在于,所述测试头用于对耗材芯片进行读写操作,包括:

第1至n个待定义探针,和n个测试信号端,n为大于等于2的整数;

n个n选1开关,每个n选1开关包括控制端、一个导通端和n个选通端;

第i个待定义探针连接于第i个n选1开关的导通端,每个n选1开关的n个选通端分别连接于n个测试信号端,i=1、2、…、n;

控制单元,连接于每个n选1开关的控制端,所述控制单元用于产生每个n选1开关的选通控制信号。

2.根据权利要求1所述的测试头,其特征在于,

所述n个测试信号端包括电源端、时钟信号端、接地端和数据信号端,所述n=4。

3.根据权利要求1或2所述的测试头,其特征在于,

每个n选1开关还包括译码器和n个模拟开关,在每个n选1开关中,导通端分别通过所述n个模拟开关连接于n个选通端,所述译码器的输入端为n选1开关的控制端,所述译码器的输出端连接于所述n个模拟开关。

4.根据权利要求1或2所述的测试头,其特征在于,

所述n选1开关为FPGA或CPLD。

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