[实用新型]一种测试头有效
申请号: | 201621476438.8 | 申请日: | 2016-12-30 |
公开(公告)号: | CN206331088U | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | 陈竞豪 | 申请(专利权)人: | 珠海艾派克微电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司11444 | 代理人: | 王刚,龚敏 |
地址: | 519075 广东省珠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 | ||
1.一种测试头,其特征在于,所述测试头用于对耗材芯片进行读写操作,包括:
第1至n个待定义探针,和n个测试信号端,n为大于等于2的整数;
n个n选1开关,每个n选1开关包括控制端、一个导通端和n个选通端;
第i个待定义探针连接于第i个n选1开关的导通端,每个n选1开关的n个选通端分别连接于n个测试信号端,i=1、2、…、n;
控制单元,连接于每个n选1开关的控制端,所述控制单元用于产生每个n选1开关的选通控制信号。
2.根据权利要求1所述的测试头,其特征在于,
所述n个测试信号端包括电源端、时钟信号端、接地端和数据信号端,所述n=4。
3.根据权利要求1或2所述的测试头,其特征在于,
每个n选1开关还包括译码器和n个模拟开关,在每个n选1开关中,导通端分别通过所述n个模拟开关连接于n个选通端,所述译码器的输入端为n选1开关的控制端,所述译码器的输出端连接于所述n个模拟开关。
4.根据权利要求1或2所述的测试头,其特征在于,
所述n选1开关为FPGA或CPLD。
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