[实用新型]一种测试头有效
申请号: | 201621476438.8 | 申请日: | 2016-12-30 |
公开(公告)号: | CN206331088U | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | 陈竞豪 | 申请(专利权)人: | 珠海艾派克微电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司11444 | 代理人: | 王刚,龚敏 |
地址: | 519075 广东省珠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 | ||
【技术领域】
本发明涉及图像处理技术领域,尤其涉及一种测试头。
【背景技术】
目前,耗材芯片与测试头连接时,耗材芯片中的各个触点与测试头中的各个待定义探针相连接,只有每个触点的电气定义和与该触点连接的待定义探针的电气定义一致时,才能实现耗材芯片与测试头之间的通信。
在实现本实用新型的过程中,发明人发现现有技术中至少存在如下问题:
现有技术中,不同的耗材芯片中各触点的电气定义和各触点的排列次序都是不同的,因此,一个具有固定的电气定义和触点的排列次序的测试头难以兼容多个具有不同的电气定义和触点的排列次序的耗材芯片,兼容性较差,为此,需要针对不同的耗材芯片分别配置一个测试头,管理起来麻烦,还占用库存空间。
【实用新型内容】
有鉴于此,本实用新型提供了一种测试头,用以解决现有技术中测试头的电气定义和触点的排列次序固定导致的测试头兼容性差的问题。
一方面,本实用新型提供了一种测试头,所述测试头用于对耗材芯片进行读写操作,所述测试头包括:
第1至n个待定义探针,和n个测试信号端,n为大于等于2的整数;
n个n选1开关,每个n选1开关包括控制端、一个导通端和n个选通端;
第i个待定义探针连接于第i个n选1开关的导通端,每个n选1开关的n个选通端分别连接于n个测试信号端,i=1、2、…、n;
控制单元,连接于每个n选1开关的控制端,所述控制单元用于产生每个n选1开关的选通控制信号。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述n个测试信号端包括电源端、时钟信号端、接地端和数据信号端,所述n=4。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,每个n选1开关还包括译码器和n个模拟开关,在每个n选1开关中,导通端分别通过所述n个模拟开关连接于n个选通端,所述译码器的输入端为n选1开关的控制端,所述译码器的输出端连接于所述n个模拟开关。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述n选1开关为FPGA或CPLD。
上述技术方案中的一个技术方案具有如下有益效果:
本实用新型提供的测试头包括:第1至n个待定义探针,和n个测试信号端,n为大于等于2的整数;n个n选1开关,每个n选1开关包括控制端、一个导通端和n个选通端;第i个待定义探针连接于第i个n选1开关的导通端,每个n选1开关的n个选通端分别连接于n个测试信号端,i=1、2、…、n;控制单元,连接于每个n选1开关的控制端,所述控制单元用于产生每个n选1开关的选通控制信号。本实用新型中,每个测试头可以有n个待定义探针,同时,每个待定义探针都可以通过多个n选1开关与n个测试信号端分别相连接,如此,将测试头与耗材芯片连接时,测试头中每个待定义探针都能够通过控制n选1开关的通断找到一个测试信号端,这个找到的测试信号端可以与耗材芯片的触点具有相同的电气定义,二者可以相互匹配,从而,测试头中的每个待定义探针都通过这种方式找到与耗材芯片中各触点的电气定义和触点的排列次序一致的信号测试端,进而,本实用新型提供的一个测试头就可以适应不同电气定义和触点的排列次序的多个耗材芯片,兼容性良好;并且,基于本实用新型中,测试头能够根据耗材芯片中的各触点的电气定义和触点的排列次序确定每个待定义探针的测试信号端,也避免了弄反测试头方向导致的操作不方便的情况,灵活性较高。因此,本实用新型提供的技术方案解决了现有技术中测试头的电气定义和触点的排列次序固定导致的测试头兼容性差的问题。
【附图说明】
为了更清楚地说明本实用新型的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是现有技术中的两种耗材芯片的结构示意图;
图2是本实用新型中的4选1开关的结构示意图;
图3是本实用新型提供的测试头的结构示意图。
【具体实施方式】
为了更好的理解本发明的技术方案,下面结合附图对本实用新型进行详细描述。
应当明确,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
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