[发明专利]尺寸测定装置以及尺寸测定方法在审

专利信息
申请号: 201680003580.7 申请日: 2016-05-27
公开(公告)号: CN107076541A 公开(公告)日: 2017-08-18
发明(设计)人: 铃木章裕;大坪绍二;守山隆昭;池田豊;石原健 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G06T1/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 尺寸 测定 装置 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种尺寸测定装置,测定放置在货架上的货物或者连着货架的货物的尺寸,该尺寸测定装置具备:

发射机,其发送测定波;

接收机,其接收反射的所述测定波,获取包含所述货物和所述货架的第一货物距离图像;

处理器;以及

存储器,

其中,所述处理器与所述存储器协作地进行以下动作:

使所述存储器存储所述第一货物距离图像,

基于所述第一货物距离图像中存在的所述货架的形状,在所述第一货物距离图像内确定除所述货物或者所述连着货架的货物以外的不需要的物体所存在的区域,

通过在所确定出的所述区域写入规定的信息来生成第二货物距离图像。

2.根据权利要求1所述的尺寸测定装置,其特征在于,

所述接收机还获取不包含所述货物的背景距离图像,

所述处理器通过获取所述背景距离图像与所述第二货物距离图像之差,来生成表示所述货物或者所述连着货架的货物的形状的最终货物距离图像。

3.根据权利要求1所述的尺寸测定装置,其特征在于,

所述处理器通过从所述第一货物距离图像提取所述货架的边缘来确定所述货架的形状。

4.根据权利要求3所述的尺寸测定装置,其特征在于,

所述处理器确定所述货架的侧面的形状,将从所述侧面突出的物体所存在的区域确定为所述不需要的物体所存在的区域。

5.根据权利要求3所述的尺寸测定装置,其特征在于,

所述处理器确定以所述货架的上表面为底面和截面中的某一方的长方体的区,将存在于所述区外的物体所存在的区域确定为所述不需要的物体所存在的区域。

6.根据权利要求2所述的尺寸测定装置,其特征在于,

所述规定的信息是与所述不需要的物体所存在的区域对应的所述背景距离图像内的区域的像素信息。

7.根据权利要求1所述的尺寸测定装置,其特征在于,

所述规定的信息是空值数据。

8.根据权利要求2所述的尺寸测定装置,其特征在于,

所述处理器将所述最终货物距离图像在三维匹配空间中进行坐标展开,

所述处理器生成坐标展开后的所述最终货物距离图像的外切长方体,计算该外切长方体的尺寸。

9.根据权利要求7所述的尺寸测定装置,其特征在于,

所述处理器将所述第二货物距离图像在三维匹配空间中进行坐标展开,

所述处理器生成坐标展开后的所述第二货物距离图像的外切长方体,计算该外切长方体的尺寸。

10.根据权利要求1所述的尺寸测定装置,其特征在于,

所述发射机是投射测定光来作为所述测定波的投影仪,

所述接收机是接收反射的所述测定光的照相机。

11.一种尺寸测定方法,测定放置在货架上的货物或者连着货架的货物的尺寸,在该尺寸测定方法中,

发射机发送测定波,

接收机接收反射的所述测定波,获取包含所述货物和所述货架的第一货物距离图像,

处理器与存储器协作地进行以下动作:

使所述存储器存储所述第一货物距离图像,

基于所述第一货物距离图像中存在的所述货架的形状,在所述第一货物距离图像内确定除所述货物或者所述连着货架的货物以外的不需要的物体所存在的区域,

通过在所确定出的所述区域写入规定的信息来生成第二货物距离图像。

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