[发明专利]用于取决于方向地测量光学辐射源的至少一个照明技术或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计

说明书

本发明涉及一种用于取决于方向地测量光学辐射源(2)的至少一个照明技术或辐射测量学特征量的测角辐射计，包括：用于使辐射源(2)在测量过程中围绕第一轴(31)和围绕垂直于第一轴(31)的第二轴(32)移动的装置；均匀反射的测量壁(5)，其上反射来自辐射源(2)的光；以及具有光学单元(8)和二维传感器芯片(100)的位置固定且不可移动的相机(7)。相机(7)被布置成检测在测量壁(5)上反射的光，其中所述反射光由相机(7)的光学单元(8)成像到相机(7)的传感器芯片(100)上，并且传感器芯片(100)在测量操作过程中在辐射源(2)转动的同时记录测量值，所述测量值表示大致在围绕辐射源(2)的辐射重心的球形表面上的照明技术或辐射测量学特征量。本发明还涉及一种用于取决于方向地测量光学辐射源(2)的至少一个照明技术或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计，其中使用至少两个固定安装的传感器(1、100)，所述传感器在测量过程中同时提供测量值。

技术领域

本发明涉及用于取决于方向地测量光学辐射源的至少一个照明技术或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计。

背景技术

为测量灯或发光体的照明技术或辐射测量学特征量，通常使用测角辐射计。测角辐射计是可用于确定变量的方向相关性以描述光学辐射的的机械光学测量系统。例如，可根据所使用的传感器或测量设备头确定光源的光强分布或颜色分布体。光源或辐射源以光重心布置在测角辐射计的中心处且在此布置在球坐标系的坐标原点处。对于此情况，照明技术或辐射测量学特征量的测量值通过转动光源或辐射源或者通过移动传感器在不同的角度区域内相继地被测角地测量，即在所有方向上被测量。

通过评估各个方向和/或通过将测量结果在分布体的部分区域上或在其整个空间角度上积分，得到了源的照明技术或辐射测量学特征量。

照明技术或辐射测量学特征量，例如光强，是取决于方向的变量，其福射方向一般地可通过在与光源连接的坐标系内的两个角度给出。在实践中，已经流行通过特定的平面系统进行描述，所述平面系统为A平面、B平面和C平面。这些平面在标准DIN 5032Part 1(1999)中定义。相应的定义也参考文献CIE No.70(1987):The measurement of absoluteluminous intensity distributions，Central Bureau of the CIE，ISBN 3 900 734 054。

在实践中，也在DIN 5032Part 1和文献CIE No.70(1987)中类似地定义的特定的测角辐射计类型被证明是合适的。特别有意义的是类型1.1至1.3的测角辐射计，其中光源在测量期间转动，而传感器位置固定。在此光源或辐射源以其光重心或辐射重心安置在测角辐射计的中心处。根据测角辐射计的类型，测量A平面、B平面或C平面。光度学测试中心或实验室必须具备不同的测角辐射计以能够进行所有测量任务。

需要一种测角计来尽可能快地覆盖待覆盖的空间角度，从而保持测量时间短并且因此每次测量成本尽可能低。

发明内容

因此，本发明的目的是提供一种用于取决于方向地测量光学辐射源的至少一个照明技术或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计，其测量时间短。

根据本发明，在此提供至少两个传感器，所述两个传感器在测量期间同时提供测量值。

因此，在本发明的第一方面中，本发明涉及一种方法，其中强度分布的测量受到同时读出多个适当安置的传感器的影响。通过使用多个传感器，测量时间可显著缩短。根据本发明的使用多个传感器的方案在此涉及测角辐射计类型1，其中，所述光源被移动，而传感器是位置固定的。