[发明专利]用于调整扫描头的测量位置的系统和方法

权利要求书

1.一种用于调整至少一个扫描头（304、304a、304b）相对于材料的幅面（108、206、302）的测量位置的系统，所述系统包含：

框架（308-312），构造成当至少一个扫描头跨越材料的幅面（108、206、302）的至少一个表面来回移动时支撑至少一个扫描头（304、304a、304b）；和

致动器系统（314-318），构造成移动所述框架的至少一部分以改变所述至少一个扫描头相对于所述幅面的测量位置；

其中，所述致动器系统包含控制器（318），构造成：

从所述至少一个扫描头接收距离测量值，所述距离测量值确认至材料的幅面的测量距离；并且

控制构造成移动所述框架的至少一部分的一个或更多个致动器（314-316）。

2.如权利要求1所述的系统，其中，所述控制器构造成控制所述一个或更多个致动器，使得当所述至少一个扫描头跨越所述幅面的至少一个表面来回移动时所述至少一个扫描头维持距所述幅面的大体固定的偏移。

3.如权利要求1所述的系统，其中：

所述框架构造成当所述扫描头跨越所述幅面的多个表面来回移动时支撑多个扫描头（304a-304b）；并且

所述控制器构造成控制所述一个或更多个致动器，使得当所述扫描头跨越所述幅面的表面来回移动时，所述幅面在所述扫描头之间维持大体固定的位置。

4.如权利要求1所述的系统，其中：

所述框架包含多个第一支撑件（308-310）和连接到所述第一支撑件的第二支撑件（312、312a、312b）；

所述第二支撑件构造成接收所述至少一个扫描头；并且

所述致动器系统构造成移动所述第一支撑件中的每个。

5.如权利要求4所述的系统，其中，所述框架进一步包含连接到所述第一支撑件的第三支撑件（312a、312b），所述第三支撑件构造成接收至少一个另外的扫描头（304a、304b）。

6.如权利要求5所述的系统，其中：

所述第二和第三支撑件以已知的距离分隔开；并且

所述控制器构造成使用所述已知的距离来控制所述一个或更多个致动器，使得所述幅面在所述扫描头之间维持大体居中的位置。

7.一种用于调整至少一个扫描头（304、304a、304b）相对于材料的幅面（108、206、302）的测量位置的设备，所述设备包含：

至少一个接口（330），构造成从在框架（308-312）上跨越材料的幅面（108、206、302）的至少一个表面来回移动的至少一个扫描头（304、304a、304b）接收距离测量值，所述距离测量值确认至材料的幅面的测量距离；和

至少一个处理装置（326），构造成控制一个或更多个致动器（314-316），以便移动所述框架的至少一部分以改变所述至少一个扫描头相对于所述幅面的测量位置；

其中，致动器系统包含控制器（318），构造成：

从所述至少一个扫描头接收距离测量值，所述距离测量值确认至材料的幅面的测量距离；并且

控制构造成移动所述框架的至少一部分的一个或更多个致动器（314-316）。

8.如权利要求7所述的设备，其中，所述至少一个处理装置构造成控制所述一个或更多个致动器，使得当所述至少一个扫描头跨越所述幅面的至少一个表面来回移动时，所述至少一个扫描头维持距所述幅面的大体固定的偏移。

9.如权利要求7所述的设备，其中：

所述至少一个接口构造成从跨越所述幅面的多个表面来回移动的多个扫描头（304a-304b）接收距离测量值；并且

所述至少一个处理装置构造成控制一个或更多个致动器，使得当所述扫描头跨越所述幅面的表面来回移动时，所述幅面在所述扫描头之间维持大体固定的位置。