[发明专利]用于调整扫描头的测量位置的系统和方法有效
申请号: | 201680007909.7 | 申请日: | 2016-01-27 |
公开(公告)号: | CN107209032B | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
发明(设计)人: | J.D.奥斯丁;B.亨布尔;M.J.瓦达斯;R.E.贝塞尔特 | 申请(专利权)人: | 霍尼韦尔有限公司 |
主分类号: | G01D11/00 | 分类号: | G01D11/00;D21F7/06 |
代理公司: | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 董均华;邓雪萌 |
地址: | 加拿大*** | 国省代码: | 加拿大;CA |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 调整 扫描 测量 位置 系统 方法 | ||
一种方法包括从在框架(314‑318)上跨越材料的幅面(108、206、302)的至少一个表面来回移动的至少一个扫描头(304、304a、304b)接收(406)距离测量值。距离测量值确认至幅面的测量距离。方法还包括控制(408)一个或更多个致动器(314‑316),以便移动框架的至少一部分以改变至少一个扫描头相对于幅面的位置。一个或更多个致动器可被控制成使得:当至少一个扫描头来回移动时,至少一个扫描头维持距幅面的大体固定的偏移。一个或更多个致动器也可被控制成使得:当扫描头来回移动时,幅面在多个扫描头(304a‑304b)之间维持大体固定的位置。
技术领域
本公开总体涉及扫描系统。更具体地,本公开涉及用于调整扫描头的测量位置的系统和方法。
背景技术
材料的片或其它幅面在各种行业中被使用并且以各种方式被使用。这些材料可包括纸、多层纸板、和以长的幅面来制造或加工的其它制品。作为具体的例子,纸的长片可以以卷筒被制造和收集。
往往需要或期望的是,在制造或加工幅面时,测量材料的幅面的一个或更多个性能。然后,可对制造或加工系统作出调整,以确保性能维持在期望的范围内。通常利用含有传感器的扫描头获得测量值,该扫描头跨越幅面的宽度来回移动。
发明内容
本公开提供用于调整扫描头的测量位置的系统和方法。
在第一实施例中,系统包括框架,该框架构造成在至少一个扫描头跨越材料的幅面的至少一个表面来回移动时支撑至少一个扫描头。系统还包括致动器系统,该致动器系统构造成移动框架的至少一部分来改变至少一个扫描头相对于幅面的位置。
在第二实施例中,设备包括至少一个接口,该至少一个接口构造成从在框架上跨越材料的幅面的至少一个表面来回移动的至少一个扫描头接收距离测量值。距离测量值确认至材料的幅面的测量距离。设备还包括至少一个处理装置,该至少一个处理装置构造成控制一个或更多个致动器,以便移动框架的至少一部分来改变至少一个扫描头相对于幅面的位置。
在第三实施例中,方法包括从在框架上跨越材料的幅面的至少一个表面来回移动的至少一个扫描头接收距离测量值。距离测量值确认至材料的幅面的测量距离。方法还包括控制一个或更多个致动器,以便移动框架的至少一部分来改变至少一个扫描头相对于幅面的位置。
从以下的附图、描述和权利要求中,其它的技术特征对本领域技术人员来说可以是显而易见的。
附图说明
为了更加完整地理解本公开,现在结合附图对以下描述作出参考,其中:
图1图示了根据本公开的示例性幅面制造或加工系统;
图2A至2C图示了根据本公开在使用扫描头来测量材料的幅面的一个或更多个特性时发生的示例性问题;
图3A和3B图示了根据本公开的用于调整扫描头的测量位置的示例性系统;以及
图4图示了根据本公开的用于调整扫描头的测量位置的示例性方法。
具体实施方式
在本专利文献中,用于描述本发明的原理的各种实施例和以下讨论的图1至图4仅通过示例的方式,并且不应以任何方式被解释成限制本发明的范围。本领域技术人员将理解的是,本发明的原理可以以任何类型的适当布置的装置或系统被实施。
图1图示了根据本公开的示例性幅面制造或加工系统100。在该示例中,系统100包括造纸机102、控制器104、和网络106。造纸机102包括用于生产纸制品的各种部件,所述纸制品即在卷筒110处被收集的纸幅面108。控制器104监测并控制造纸机102的操作,其可帮助维持或提高由造纸机102生产的纸幅面108的质量。
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