[发明专利]光致发光验证装置、系统和方法

权利要求书

1.一种用于验证的系统，所述系统包括：

标签，其具有表面并且包括光致发光材料，所述光致发光材料能够吸收来自辐射源的入射辐射且在辐射源移除之后发射具有光谱标志的发射辐射，所述光致发光材料具有衰减时间；以及

光验证装置，所述光验证装置包括：

辐射源，其经配置以向直接邻近的光致发光材料提供入射辐射；以及

相机，其经配置以在所述衰减时间期间测量来自直接邻近的光致发光材料的所述发射辐射，

其中所述光谱标志包括在所述衰减时间内的在第一波长处的光谱强度和在第二波长处的光谱强度，以及

其中所述光验证装置经配置以在光验证装置跨越所述标签的表面的移动期间提供来自所述辐射源的入射辐射并且通过所述相机测量发射辐射。

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述光谱标志界定测得代码。

3.根据权利要求2所述的系统，其中将所述测得代码与预定代码进行比较以确定验证。

4.根据权利要求1所述的系统，其中所述光谱标志包含光谱和空间图案。

5.根据权利要求2所述的系统，其中所述光谱标志包含在衰减时间的在第三波长处的光谱强度。

6.根据权利要求1所述的系统，其中所述光验证装置是智能电话或平板计算机。

7.根据权利要求1所述的系统，其中所述发射辐射中的所述第一和第二波长中的至少一者是在可见光的光谱内。

8.根据权利要求1所述的系统，其中所述发射辐射中的所述第一和第二波长中的至少一者是在不可见光的光谱内。

9.根据权利要求1所述的系统，其中所述标签经配置以并入到货币中。

10.根据权利要求1所述的系统，其中所述衰减时间是至少一秒。

11.一种用于验证物品的方法，其包括：

用辐射源照射具有表面并且包含光致发光材料的标签，所述光致发光材料具有衰减时间且经配置以吸收入射辐射且在辐射源移除之后发射具有光谱标志的发射辐射；

用相机在辐射源移除之后的所述衰减时间期间测量来自所述光致发光材料的所述发射辐射；

用计算装置基于所述光谱标志产生代码；以及

用所述计算装置将所述代码与预定参考代码进行比较，

其中光验证装置包括辐射源、相机和计算装置，

其中所述光谱标志包括在衰减时间内的在第一波长处的光谱强度和在第二波长处的光谱强度，

其中所述辐射源经配置以向直接邻近的光致发光材料提供入射辐射，

其中所述相机经配置以测量来自直接邻近的光致发光材料的所述发射辐射，

其中所述标签在衬底上使用，

其中所述光验证装置经配置以在光验证装置跨越所述衬底的表面的移动期间提供来自所述辐射源的入射辐射并且通过所述相机测量发射辐射。

12.根据权利要求11所述的方法，其中所述光谱标志界定测得代码。

13.根据权利要求11所述的方法，其中所述光验证装置是智能电话或平板计算机。