[发明专利]光致发光验证装置、系统和方法

说明书

一种用于验证的系统和方法包含：光致发光标签，其包含具有衰减时间的光致发光材料，所述光致发光材料经配置以吸收来自辐射源的入射辐射且在所述辐射源的移除之后发射具有光谱标志的发射辐射；以及传感器，其经配置以在所述衰减时间期间测量所述发射辐射中的所述光谱标志。

技术领域

本申请大体上涉及用于验证物品的装置、设备、系统和方法。具体地说，本申请涉及用于验证物品的光致发光标签。

背景技术

伪造是在增长的商业和经济问题。各种产品和物品在经受伪造。举例来说，用于例如白酒和烟草、服装、鞋类、墨盒、货币、汽车零件和电子器件等产品的税戳记可全部经受伪造。伪造的产品常常难以检测且通常具有较差质量。伪造的产品对消费者和制造商都具有不利影响，且可能甚至对无戒心的消费者为有害的和/或危险的。

制造商尝试阻止且防止通过各种技术的伪造。举例来说，受到伪造者针对的产品的一些制造商已经在他们的产品上利用特殊的标记、全息图、戳记或其它特征。然而，伪造者通常会规避这些技术。另一种防伪技术是使用射频识别(RFID)标签；然而，RFID标签可为昂贵的，且识别由每一RFID标签发射的数据所需的技术并不容易由消费者使用。

因此，需要的是对消费者来说可达到且容易使用并且对伪造者来说难以规避的对产品的有成本效益且准确的验证。

发明内容

一般来说，在一个方面中，本发明的示范性实施例可提供一种用于验证的系统，其包含：光致发光标签，其包含具有衰减时间的光致发光材料，所述光致发光材料可经配置以吸收来自辐射源的入射辐射且在所述辐射源的移除之后发射具有光谱标志的发射辐射；以及传感器，其经配置以在所述衰减时间期间测量所述发射辐射中的所述光谱标志。

本发明的各种示范性实施例的实施方案可包含以下特征中的一个或多个。所述测得的光谱标志可包含在第一波长处的测得光谱强度和在第二波长处的测得光谱强度以界定测得代码。根据某些方面，测得的光谱标志可包含在第三波长处的测得光谱强度。这些波长可以在可见光或不可见光的光谱中。所述传感器可经配置以在光致发光材料的衰减时间期间执行测量。此衰减时间可为至少一秒，且所述光谱标志可包含光谱和空间图案。此外，可将测得的代码与预定代码进行比较以确定验证。所述传感器可为智能电话或平板计算机，且所述传感器可为成像装置。此外，所述光致发光标签可经配置以并入到货币中。

一般来说，在另一方面中，本发明的示范性实施例可提供一种包含光致发光材料的光致发光标签，所述光致发光材料经配置以吸收入射辐射且发射具有光谱标志的发射辐射，所述光致发光材料具有衰减时间且经配置以在所述光致发光材料的衰减时间期间被检测以使得可测量所述光谱标志。

本发明的各种示范性实施例的实施方案可包含以下特征中的一个或多个。所述光谱标志可包含在第一波长处的光谱强度和在第二波长处的光谱强度以界定代码，且所述光谱标志可包含光谱和空间图案。此外，所述光致发光材料可安置于织物上，且所述标签可包含多条丝线，其中所述多条丝线中的至少两条具有安置于其上的不同类型的光致发光材料。此外，多条丝线可以经过选择、图案化且组合以获得所述光谱标志。另外，所述衰减时间可为至少一秒，且所述测量可包含扫描和/或成像。

一般来说，在另一方面中，本发明的示范性实施例可提供一种用于验证物品的方法，其包含：用辐射源照射包含光致发光材料的标签，所述光致发光材料具有衰减时间且经配置以吸收入射辐射且在所述辐射源的移除之后发射具有光谱标志的发射辐射；用传感器在所述衰减时间期间测量所述发射辐射中的所述光谱标志；用计算装置基于所述光谱标志而产生代码；以及用所述计算装置将所述代码与预定参考代码进行比较。

本发明的各种示范性实施例的实施方案可包含以下特征中的一个或多个。所述标签可进一步经配置以使得所述光谱标志包含在第一波长处的光谱强度、在第二波长处的光谱强度，以及在第三波长处的光谱强度。此外，所述传感器可为智能电话或平板计算机。

附图说明