[发明专利]耐漏电起痕性组合物、由其形成的制品及其制造方法

说明书

一种组合物，基于所述组合物的总重量，包含40至80wt％的聚醚酰亚胺；10至50wt％的滑石；和1至15wt％的包含聚苯二甲酰胺、聚(硅氧烷‑醚酰亚胺)共聚物、脂族聚酰胺或包含前述中的至少一种的组合的聚合物添加剂；其中所述组合物在250伏下具有根据ASTM D‑3638‑85测定的大于或等于50滴的漏电起痕的液滴数。

技术领域

本公开涉及聚醚酰亚胺组合物，特别地涉及耐漏电起痕性聚醚酰亚胺组合物(electrical tracking resistant polyetherimide composition)，由其形成的制品及其制造方法。

背景技术

聚醚酰亚胺被称为优异的高性能材料，其具有高玻璃化转变温度(Tg)、高模量和在高温下的强度，以及优异的耐化学性。它们可用于制造用于各种应用的制品和元件。由于它们的广泛用途，特别是在电气和电子工业中，因此期望提供具有良好的耐漏电起痕性(electrical tracking resistance)聚醚酰亚胺。漏电起痕(Electrical tracking)是在一定条件和一定电压下在聚合物表面上形成的导电通路。聚合物中的漏电起痕可能是火灾的来源，因此对漏电起痕的抗性通常是对于某些电气应用中使用的材料的重要安全要求。报告聚合物的耐漏电起痕性的常用方法是通过它的相比漏电起痕指数评级(comparativetracking index rating)(CTI)。目前已知的聚醚酰亚胺可具有100至175伏的CTI。然而，一些应用可能需要具有较高CTI的材料。

因此，本领域仍需要具有优异的耐漏电起痕性聚醚酰亚胺组合物。如果可给予组合物耐漏电起痕性而对材料成本、加工性和机械性能中的一种或多种没有显著不利影响，这将是进一步的优势。

发明内容

本领域的上述和其它缺点通过聚醚酰亚胺组合物得到满足，其包含：基于组合物的总重量，40至80wt％的聚醚酰亚胺；10至50wt％的滑石；和1至15wt％的包含聚苯二甲酰胺(polyphthalamide)、聚(硅氧烷-醚酰亚胺)共聚物、脂族聚酰胺或包含前述中的至少一种的组合的聚合物添加剂；其中所述组合物在250伏下具有根据ASTM D-3638-85测定的大于或等于50滴的漏电起痕的液滴数(a number of drops to tracking)。

在另一个实施方案中，制造方法包括将上述组分组合以形成聚醚酰亚胺组合物。

在另一个实施方案中，制品包含上述聚醚酰亚胺组合物。

在另一个实施方案中，制造制品的方法包括将上述聚醚酰亚胺组合物成型(molding)、挤出或成形(shaping)为制品。

上述和其它特征由以下附图、详细描述、实施例和权利要求举例说明。

具体实施方式

发明人发现，向聚醚酰亚胺添加10wt％至50wt％的滑石和1wt％至15wt％的聚合物添加剂如聚苯二甲酰胺、聚(硅氧烷-醚酰亚胺)共聚物、脂族聚酰胺或包含前述中的至少一种的组合导致聚醚酰亚胺的耐漏电起痕性的显著改善。聚醚酰亚胺组合物在250伏下具有根据ASTM D-3638-85测定的大于或等于50滴的漏电起痕的液滴数，以及根据ASTM D-3638-85测定的大于或等于270伏的漏电起痕电压(tracking voltage)。结果令人惊奇，因为诸如钛酸钡、云母、水滑石、二氧化硅、硅酸铝、酸性氧化铝、膨润土、埃洛石粘土、氧化镁、钙羟基磷灰石或碳酸钙的其它填料都不会改善或仅略微改善聚醚酰亚胺的耐漏电起痕性。