[发明专利]检查装置及检查方法

权利要求书

1.一种检查装置，检查具有金属弹片的金属弹片开关，其特征在于，包括：

第一检测部，检测触觉导通位置，所述触觉导通位置表示所述金属弹片开关触觉导通时的所述金属弹片的位移量；

第二检测部，检测电导通位置，该电导通位置表示所述金属弹片开关电导通时的所述金属弹片的位移量；

判定部，基于所述触觉导通位置及所述电导通位置来进行所述金属弹片开关的好坏判定。

2.根据权利要求1所述的检查装置，其特征在于，

所述第一检测部检测负载－位移曲线的最小点，所述负载－位移曲线表示施加于所述金属弹片的负载与所述金属弹片的位移之间的关系。

3.根据权利要求1或2所述的检查装置，其特征在于，

所述第二检测部检测第一端子与第二端子之间流过电流，所述第一端子与所述金属弹片的端部电连接，所述第二端子利用所述金属弹片的变形而与所述金属弹片的顶部接触。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其特征在于，

所述检查装置还包括偏移量计算部，所述偏移量计算部计算出所述触觉导通位置与所述电导通位置之差，

所述偏移量计算部根据式(1)计算出所述差，

d＝V×(T2-T1)…(1)

其中，d：所述差、V：对所述金属弹片施加负载的压入部件的压入速度、T1：从基准时刻至所述金属弹片的负载变为最小为止的时间、T2：从所述基准时刻至所述金属弹片开关中流过导通电流为止的时间。

5.根据权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其特征在于，

所述检查装置还包括偏移量计算部，所述偏移量计算部计算出所述触觉导通位置与所述电导通位置之差，

所述偏移量计算部根据式(2)计算出所述差，

d＝T2-T1…(2)

其中，d：所述差、T1：从基准时刻至所述金属弹片的负载变为最小为止的时间、T2：从所述基准时刻至所述金属弹片开关中流过导通电流为止的时间。

6.根据权利要求1～5中任一项所述的检查装置，其特征在于，

在所述触觉导通位置与所述电导通位置之差为规定值以下的情况下，所述判定部判定所述金属弹片开关为合格品。

7.根据权利要求1～6中任一项所述的检查装置，其特征在于，

在所述电导通位置比所述触觉导通位置小的情况下，所述判定部判定所述金属弹片开关为不合格品。

8.根据权利要求1所述的检查装置，其特征在于，

所述金属弹片开关是具有第一阶段的导通状态及第二阶段的导通状态的二级开关，

所述第一检测部检测第一触觉导通位置和第二触觉导通位置，所述第一触觉导通位置表示所述金属弹片开关在第一阶段触觉导通时的所述金属弹片的位移量，所述第二触觉导通位置表示所述金属弹片开关在第二阶段触觉导通时的所述金属弹片的位移量，

所述第二检测部检测第一电导通位置和第二电导通位置，所述第一电导通位置表示所述金属弹片开关在第一阶段电导通时的所述金属弹片的位移量，所述第二电导通位置表示所述金属弹片开关在第二阶段电导通时的所述金属弹片的位移量，

所述判定部基于所述第一触觉导通位置及第二触觉导通位置、和所述第一电导通位置及第二电导通位置来进行所述金属弹片开关的好坏判定。

9.根据权利要求8所述的检查装置，其特征在于，

在所述第一触觉导通位置与所述第一电导通位置之差为第一规定值以下、且所述第二触觉导通位置与所述第二电导通位置之差为第二规定值以下的情况下，所述判定部判定所述金属弹片开关为合格品。

10.根据权利要求1～9中任一项所述的检查装置，其特征在于，

所述检查装置还包括显示部，所述显示部显示所述触觉导通位置、所述电导通位置、所述触觉导通位置与所述电导通位置之差、及所述好坏判定的结果中的至少任意一个。

11.一种检查方法，其是具有金属弹片的金属弹片开关的检查方法，其特征在于，包括：

第一检测部检测触觉导通位置的工序，所述触觉导通位置表示所述金属弹片开关触觉导通时的所述金属弹片的位移量；

第二检测部检测电导通位置的工序，所述电导通位置表示所述金属弹片开关电导通时的所述金属弹片的位移量；

判定工序，判定部基于所述触觉导通位置及所述电导通位置来进行所述金属弹片开关的好坏判定。