[发明专利]玻璃板在审
| 申请号： | 201680017759.8 | 申请日： | 2016-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN107406309A | 公开（公告）日： | 2017-11-28 |
| 发明（设计）人： | 三浦丈宜;宫坂聪史;林泰夫;山中一彦 | 申请（专利权）人： | 旭硝子株式会社 |
| 主分类号： | C03C23/00 | 分类号： | C03C23/00;C03C15/00;C03C21/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人： | 王海川,穆德骏 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 玻璃板 | ||
1.一种玻璃板，其具有第1主面和在厚度方向上位于第1主面相反侧的第2主面，其中，
由下述式(1)表示的X为-0.29＜X＜0.29，并且
通过下式(II)求出的F0-3为0.02以上，
A×Δ1H/30Si+B×ΔNa2O+C×ΔSn+D×ΔF＝X(1)
在此，式(1)中的各参数表示以下的含义，
Δ1H/30Si：从第1主面中的深度3μm～12μm的由二次离子质谱分析(SIMS)得到的平均1H/30Si计数中减去第2主面中的深度3μm～12μm的由SIMS得到的平均1H/30Si计数而得到的差值
ΔNa2O：从第1主面中的深度0～3μm的由XRF得到的平均Na2O浓度(重量％)中减去第2主面中的深度0～3μm的由XRF得到的平均Na2O浓度(重量％)而得到的差值
ΔSn：从第1主面中的深度0～10μm的由XRF得到的作为表示玻璃中的锡的含量的指标的锡计数的值中减去第2主面中的深度0～10μm的由XRF得到的作为表示玻璃中的锡的含量的指标的锡计数而得到的差值
ΔF：从第1主面中的深度0～12μm的由SIMS得到的平均氟浓度(重量％)×12中减去第2主面中的深度0～12μm的由SIMS得到的平均氟浓度(重量％)×12而得到的差值
A：-128.95
B：1
C：-0.0002428
D：-0.009922
F0-3＝[第1主面中的深度0～3μm的由SIMS得到的平均氟浓度(重量％)]×3(II)。
2.如权利要求1所述的玻璃板，其中，由下式(I)表示的表层氟比例为大于等于0.2且小于0.9，
表层氟比例＝F0-3/F0-30(I)
式(I)中，F0-3通过下式(II)求出：
F0-3＝[第1主面中的深度0～3μm的由SIMS得到的平均氟浓度(重量％)]×3 (II)
式(I)中，F0-30通过下式(III)求出：
F0-30＝[第1主面中的深度0～30μm的由SIMS得到的平均氟浓度(重量％)]×30(III)。
3.如权利要求1或2所述的玻璃板，其中，所述玻璃板为通过浮法制造的玻璃板。
4.一种化学强化玻璃板，其通过对权利要求1～3中任一项所述的玻璃板进行化学强化而得到。
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