[发明专利]层叠光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法有效
| 申请号： | 201680019040.8 | 申请日： | 2016-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN107407642B | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 富永俊彦;王一峰;许宰宁;李银珪 | 申请（专利权）人： | 住友化学株式会社;东友精细化工有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/892 | 分类号： | G01N21/892;G01N21/896 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 刘文海 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 层叠 光学 缺陷 检查 方法 以及 制造 | ||
1.一种层叠光学膜的缺陷检查方法，其是向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而得到层叠光学膜、并对所述层叠光学膜中的缺陷进行检查的方法，
所述层叠光学膜的缺陷检查方法的特征在于，包括：
进行所述光学膜的缺陷检查的第一检查工序；
向所述光学膜贴合所述保护膜以及所述粘合件中的至少一方而生成所述层叠光学膜的工序；
与在所述第一检查工序中检测出的缺陷对应而对所述层叠光学膜进行标记的第一标记工序；
进行所述层叠光学膜的缺陷检查的第二检查工序；以及
与在所述第二检查工序中检测出的缺陷对应而对所述层叠光学膜进行标记的第二标记工序，
在所述第二检查工序中，不对在所述第一标记工序中标记出的记号进行检测。
2.根据权利要求1所述的层叠光学膜的缺陷检查方法，其中，
所述第一检查工序中的缺陷检查方法与所述第二检查工序中的缺陷检查方法相同。
3.根据权利要求1所述的层叠光学膜的缺陷检查方法，其中，
所述第一检查工序中的缺陷检查方法与所述第二检查工序中的缺陷检查方法不同。
4.一种光学膜的缺陷检查方法，其是检查光学膜的缺陷的方法，
所述光学膜的缺陷检查方法的特征在于，包括：
进行所述光学膜的缺陷检查的第一检查工序；
与在所述第一检查工序中检测出的缺陷对应而对所述光学膜进行标记的第一标记工序；
进行与所述第一检查工序中的缺陷检查不同的缺陷检查来作为所述光学膜的缺陷检查的第二检查工序；以及
与在所述第二检查工序中检测出的缺陷对应而对所述光学膜进行标记的第二标记工序，
在所述第二检查工序中，不对在所述第一标记工序中标记出的记号进行检测。
5.一种层叠光学膜的制造方法，其是向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而制造层叠光学膜的方法，
所述层叠光学膜的制造方法的特征在于，
包括权利要求1至3中任一项所述的层叠光学膜的缺陷检查方法。
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