[发明专利]层叠光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法

说明书

本发明的一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法包括：进行光学膜(11)的缺陷检查的第一检查工序；向光学膜(11)贴合保护膜(12)以及粘合件(13)而生成层叠光学膜(10A、10B)的工序；与在第一检查工序中检测出的缺陷(20)对应而对层叠光学膜(10A)进行(记号(30)的)标记的第一标记工序；进行层叠光学膜(10B)的缺陷检查的第二检查工序；以及与在第二检查工序中检测出的缺陷(21)对应而对层叠光学膜(10B)进行(记号(31)的)标记的第二标记工序，在第二检查工序中，不对在第一标记工序中标记出的记号(30)进行检测。

技术领域

本发明涉及层叠光学膜的缺陷检查方法以及光学膜的缺陷检查方法，也涉及层叠光学膜的制造方法。

背景技术

作为具有光学特性的光学膜，已知具有偏振特性的偏振板、具有双折射性的相位差板等。例如，作为偏振板，已知在作为光学膜主体的偏振片 (Polyvinyl Alcohol：PVA(聚乙烯醇))的主面两侧贴合有TAC(Triacetyl Cellulose：三醋酸纤维素)膜的偏振板。作为相位差板，已知由光学膜主体单独构成的相位差板。也有时在这种光学膜贴合保护膜、或者贴合带有隔离膜的状态的粘合件而形成层叠光学膜。

在这种光学膜以及层叠光学膜中，若例如在上述贴合时在内部或表面混入异物、气泡，则有时产生光学缺陷。在专利文献1～2中公开了检查这种光学膜以及层叠光学膜的缺陷的方法。

当采用这种缺陷检查方法检测出缺陷时，与缺陷对应地例如以围绕缺陷的方式在光学膜以及层叠光学膜的表面上进行标记，进行了标记的区域被从作为产品的利用中剔除。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2009-69142号公报

专利文献2：日本特开2011-65184号公报

发明内容

发明要解决的课题

在这样的缺陷检查方法中，要求准确地对缺陷的数量进行计数。另外，追求标记的记号为与缺陷的大小对应的大小。

此外，在这种光学膜以及层叠光学膜的缺陷检查中，有时进行两次以上的缺陷检查。例如，每当贴合光学膜以及层叠光学膜的各层时进行缺陷检查、或者为了检测不同的缺陷而执行不同的检查方法。

然而，在进行两次以上的缺陷检查的情况下，存在如下问题：在第二次以后的检查中，将在上次以前标记出的记号检测为缺陷，并与之对应地 (例如以围绕缺陷的方式)进行标记，结果导致最终记号尺寸变大。

于是，本发明的目的在于，提供能够防止在进行两次以上的缺陷检查时对与上次以前检测出的缺陷对应的记号进行检测的层叠光学膜的缺陷检查方法以及光学膜的缺陷检查方法。另外，本发明的目的也在于提供层叠光学膜的制造方法。

用于解决课题的方案

本发明的层叠光学膜的缺陷检查方法是向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而得到层叠光学膜、并对层叠光学膜中的缺陷进行检查的方法，所述层叠光学膜的缺陷检查方法包括：进行光学膜的缺陷检查的第一检查工序；向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而生成层叠光学膜的工序；与在第一检查工序中检测出的缺陷对应而对层叠光学膜进行标记的第一标记工序；进行层叠光学膜的缺陷检查的第二检查工序；以及与在第二检查工序中检测出的缺陷对应而对层叠光学膜进行标记的第二标记工序，在第二检查工序中，不对在第一标记工序中标记出的记号进行检测。

根据该层叠光学膜的缺陷检查方法，在第二检查工序中，不对在第一标记工序中标记出的记号进行检测。因而，能够防止在进行两次以上的缺陷检查时对与上次以前检测出的缺陷对应的记号进行检测的情况。

上述的第一检查工序中的缺陷检查方法与上述的第二检查工序中的缺陷检查方法可以相同，也可以不同。