[发明专利]记录装置和方法、光学记录介质、再现装置和再现方法

权利要求书

1.一种记录装置，包括：

记录单元，所述记录单元用激光照射具有多个记录层的光学记录介质的记录层，以记录信息；以及

控制单元，所述控制单元根据应用于所述光学记录介质的文件系统的类型，在每个所述记录层中设定测试区域，在所述测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入，并且所述控制单元指导所述记录单元将指示所设定的测试区域的所在位置的信息记录在所述光学记录介质上，其中，所述文件系统的类型包括第一文件系统和第二文件系统，在所述第一文件系统中，最内层中使用的测试区域的量趋于多于其它层中的测试区域的量，在所述第二文件系统中，在每层中使用的测试区域的量趋于彼此相等。

2.根据权利要求1所述的记录装置，

其中，所述控制单元根据里侧测试区域的使用情况，确定是否对使用候选区域进行使用，所述使用候选区域是在所设定的测试区域之中的建议使用的测试区域候选，其中，相比于所述使用候选区域，所述里侧测试区域在所述光学记录介质的层方向上更接近与激光入射面相对的表面，并且所述里侧测试区域与所述使用候选区域重叠。

3.根据权利要求1所述的记录装置，

其中，所述控制单元根据跟前侧测试区域的使用情况，确定是否对使用候选区域进行使用，所述使用候选区域是在所设定的测试区域之中的建议使用的测试区域候选，其中，相比于所述使用候选区域，所述跟前侧测试区域在所述光学记录介质的层方向上更接近激光入射面，并且所述跟前侧测试区域与所述使用候选区域重叠。

4.根据权利要求1所述的记录装置，

其中，所述控制单元在内区和数据区中设定所述测试区域，其中，与记录用户数据的所述数据区相比，所述内区更接近内周侧。

5.根据权利要求1所述的记录装置，

其中，所述控制单元在数据区中设定除了指示所述所在位置的信息已经被记录在所述光学记录介质上的所述测试区域之外的新的测试区域，并且所述控制单元指导所述记录单元将指示所设定的测试区域的所在位置的信息记录在所述光学记录介质上。

6.根据权利要求5所述的记录装置，

其中，在所述测试区域被设定在所述数据区中的情况下，所述控制单元在与跟前侧记录层的未记录区域对应的区域中设定所述测试区域，其中，与待设定所述测试区域的所述记录层相比，所述跟前侧记录层更接近所述激光入射面。

7.根据权利要求5所述的记录装置，

其中，在所述测试区域被设定在所述数据区中的情况下，所述控制单元在与里侧记录层的已记录区域对应的区域中设定所述测试区域，其中，与待设定所述测试区域的所述记录层相比，所述里侧记录层更接近与所述激光入射面相对的表面。

8.一种记录方法，包括：

根据应用于光学记录介质的文件系统的类型，在具有多个记录层的所述光学记录介质的每个记录层中设定测试区域，在所述测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入，其中，所述文件系统的类型包括第一文件系统和第二文件系统，在所述第一文件系统中，最内层中使用的测试区域的量趋于多于其它层中的测试区域的量，在所述第二文件系统中，在每层中使用的测试区域的量趋于彼此相等；以及

将指示所设定的测试区域的所在位置的信息记录在所述光学记录介质上。

9.一种光学记录介质，包括：

多个记录层，

其中，根据将被应用的文件系统的类型，测试区域被设定在每个所述记录层中，在所述测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入，其中，所述文件系统的类型包括第一文件系统和第二文件系统，在所述第一文件系统中，最内层中使用的测试区域的量趋于多于其它层中的测试区域的量，在所述第二文件系统中，在每层中使用的测试区域的量趋于彼此相等，并且

指示所设定的测试区域的所在位置的信息被记录在所述光学记录介质上。