[发明专利]记录装置和方法、光学记录介质、再现装置和再现方法

说明书

本发明的目的是减少因缺乏测试区域而造成阻止数据记录的可能性。对于光学记录介质的多个记录层中的每个记录层，设定测试区域，对测试区域执行试用写入以控制激光功率，并且表示所设定的测试区域的实际位置的信息被记录。通过再现记录在包括多个记录层的光学记录介质中的信息，以及记录表示所设定的测试区域的实际位置的信息，来获取表示测试区域的实际位置的信息，其中每个记录层设定有测试区域，对测试区域执行试用写入以控制激光功率。

技术领域

本技术涉及在可记录光学记录介质(诸如一次写入光学记录介质或可重写光学记录介质)上记录数据的记录装置和记录方法、光学记录介质，以及从光学记录介质再现数据的再现装置和再现方法。

引用列表

专利文献

专利文献1：国际公开第05/034110号小册子

专利文献2：日本专利申请特许公开第2004-295940号

背景技术

例如，已经知道盘型光学记录介质(在下文中，还称为“光盘”)，诸如蓝光盘(注册商标)。使用从半导体激光器发射的激光，将信息记录在光学记录介质上，或从光学记录介质再现信息。

因温度或随着时间改变而造成的激光功率的变化、在制造期间由调整误差引起的各种扭斜或偏移，以及在驱动控制中记录条件的变化大大影响激光在光盘上的信息的记录。因而，具体地，在可记录光盘(诸如一次写入盘或可重写盘)中，防止激光驱动电路或光学元件中的变化，并且执行准确发射波长控制。

一般来说，在执行数据记录之前，记录装置使用被提供在每个记录层中的测试区域(最佳功率控制区域(OPC区域))搜索最佳激光功率，并且调整记录激光功率或策略，以优化记录条件。

在用于调整记录激光功率的测试写入过程(测试写入)中，必须去除例如扰动，以优化记录激光功率，并且在最佳记录条件不清楚的状态下优化激光驱动脉冲。在一些情况下，发射具有多于需要的能量的激光，或在激光驱动脉冲的宽度(激光发射时间)不合适的状态下发射激光，以便搜索最佳条件，诸如记录激光功率。作为结果，记录层中的OPC区域可能被严重损坏。

此外，在其中多个记录层被形成在盘基板上的所谓的多层光盘中，在记录层上的数据的记录或来自记录层的数据的再现受被提供在跟前侧上的另一个记录层(该另一个记录层与该记录层相比更接近激光入射面)的记录状态的影响。

例如，通过记录改变记录层的透射率，这使得很难用适当量的激光照射当前记录层。此外，由于透射率的改变取决于记录功率，所以很难控制透射率的改变，也就是说，当改变记录功率时对其中执行记录的部分中的内侧记录层(诸如OPC区域)的影响程度。

从这些观点来看，存在以下问题：根据跟前侧记录层的记录状态很难实现期望的OPC以及很难准确地得到最佳条件。也就是说，在记录层的 OPC区域中执行与测试写入相关的激光功率调整的情况下，记录或再现受在平面方向(盘的径向方向)上被布置在相同位置(也就是说，在厚度方向(＝层方向)上彼此重叠的位置)处的其它记录层的OPC区域的影响。

相比之下，在现有技术中，例如，提出了其中不同记录层的OPC区域在记录层的径向方向上偏移的方法，如在专利文献1中公开的。

在现有的蓝光盘的两层标准中，被布置在设置于盘的内周侧的读入区中的每个记录层的OPC区域被布置成在记录层的径向方向上偏移。

发明内容

本发明解决的问题

如上所述，在多层光盘中，考虑到跟前侧记录层的透射率中的改变的影响，OPC区域(测试区域)被布置在每个记录层中的在层方向上彼此不重叠的位置处。