[发明专利]屏蔽板以及测定装置

权利要求书

1.一种屏蔽板，其特征在于：

是用于测定对象的温度的非接触测定的屏蔽板，

具备能够调整温度的基材，

位于所述基材的一侧的第1面的热放射量大于位于所述第1面的相反侧的第2面的热放射量，

所述第1面是放射红外线的黑体面。

2.如权利要求1所述的屏蔽板，其特征在于：

所述基材具有基板层、将所述第1面作为外表面的第1层、以及以在与所述第1层之间夹持所述基板层的方式设置的将所述第2面作为外表面的第2层，

所述第1层的热放射量大于所述第2层的热放射量。

3.如权利要求1所述的屏蔽板，其特征在于：

所述基材具有将所述第2面作为外表面的基板层、以及以重叠于所述基板层的方式设置的将所述第1面作为外表面的第1层，

所述第1层的热放射量大于所述基板层的热放射量。

4.如权利要求1所述的屏蔽板，其特征在于：

所述基材具有将所述第1面作为外表面的基板层、以及以重叠于所述基板层的方式设置的将所述第2面作为外表面的第2层，

所述第2层的热放射量大于所述基板层的热放射量。

5.如权利要求1～4中的任意一项所述的屏蔽板，其特征在于：

所述第1面通过被黑化处理来形成。

6.如权利要求1所述的屏蔽板，其特征在于：

所述基材具有基板层、将所述第2面作为外表面的第2层、以及设置于基板层与所述第2层之间并且防止从所述基板层向所述第2层传递热的隔热层。

7.如权利要求1～6中的任意一项所述的屏蔽板，其特征在于：

所述第2面是反射红外线的反射面。

8.如权利要求1～7中的任意一项所述的屏蔽板，其特征在于：

所述第1面的放射率高于所述第2面的放射率。

9.一种测定装置，其特征在于：

是进行测定对象的温度的非接触测定的测定装置，

具备：

导光光学系统，与所述测定对象相对而配置，并对来自所述测定对象的红外线进行导光；

摄像部，与所述导光光学系统光学耦合，对来自所述测定对象的所述红外线进行摄像，并输出热图像数据；

权利要求1～8中的任意一项所述的屏蔽板，配置于所述测定对象与所述导光光学系统之间；以及

温度控制部，控制所述屏蔽板的基材的温度。

10.如权利要求9所述的测定装置，其特征在于：

进一步具备根据所述热图像数据，求得所述测定对象的温度的运算部。

11.如权利要求10所述的测定装置，其特征在于：

所述温度控制部以所述屏蔽板的基材的温度至少成为第1温度以及与第1温度不同的第2温度的方式进行控制，

所述运算部根据所述第1温度时的所述热图像数据以及所述第2温度时的所述热图像数据，求得所述测定对象的温度。

12.如权利要求9～11中的任意一项所述的测定装置，其特征在于：

所述摄像部具有红外线检测器。