[发明专利]用于多叶准直器的基于图像的孔径验证系统和方法有效
申请号: | 201680034364.9 | 申请日: | 2016-03-21 |
公开(公告)号: | CN107969117B | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 乔纳森·塞西尔·查普洛;彼得·乔丹;卡尔文·毛雷尔;萨博吉特·辛格;安德鲁·W·菲廷;安德里·米隆恩科;高健 | 申请(专利权)人: | 爱可瑞公司 |
主分类号: | A61N5/10 | 分类号: | A61N5/10;G06K9/62;G06T5/00;G06T7/73;G21K1/04;H04N5/225 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 多叶准直器 基于 图像 孔径 验证 系统 方法 | ||
1.一种用于多叶准直器的基于图像的孔径验证系统,包括:
所述多叶准直器即MLC,包括:
壳体;
布置在所述壳体内的多个叶子,其中,所述多个叶子可动以限定针对所述MLC的孔径;以及
图像传感器,在所述壳体内布置在相对于束轴线偏移的位置,其中,所述图像传感器指向所述多个叶子,所述图像传感器用于生成所述孔径的倾斜视角图像;和
处理装置,用于:
接收所述倾斜视角图像;
执行校准来把所述倾斜视角图像变换成具有参考坐标空间的俯视图像,所述校准是通过把所述多个叶子定位到预定的校准孔径并与模板图像进行比较来执行的;以及
基于所述俯视图像,确定针对所述MLC的孔径是否对应于指定的孔径。
2.如权利要求1所述的辐射递送系统,其中,所述多个叶子遵循平行的直线轨迹,其中,所述多个叶子中每一者的位置改变在所述俯视图像中被表示为所述参考坐标空间的一个轴线上的位置改变。
3.如权利要求1所述的辐射递送系统,其中,要由所述图像传感器生成的倾斜视角图像是包括光学镜头失真的失真倾斜视角图像,其中,所述处理装置还用于:
在所述倾斜视角图像到所述俯视图像的变换之前,执行附加变换以从所述失真倾斜视角图像移除所述光学镜头失真。
4.如权利要求1所述的辐射递送系统,其中,所述处理装置用于向所述倾斜视角图像应用几何变换,以变换所述倾斜视角图像。
5.如权利要求4所述的辐射递送系统,其中,所述处理装置用于生成代表所述几何变换的变换矩阵,其中,所述处理装置用于执行以下操作来生成所述变换矩阵:
使所述多个叶子限定所述预定的校准孔径,所述预定的校准孔径对应于所述模板图像中示出的已知孔径;
使所述图像传感器生成所述校准孔径的附加倾斜视角图像;
对所述校准孔径的附加倾斜视角图像执行图像处理以找到第一关键点;
对所述模板图像执行图像处理以找到第二关键点;
执行特征匹配以将所述第一关键点的成员匹配到所述第二关键点的相应成员;以及
确定把所述第一关键点与所述第二关键点对齐的变换。
6.如权利要求5所述的辐射递送系统,其中,对于所述已知孔径,所述多个叶子处于不均匀位置并造成多个关键点。
7.如权利要求1所述的辐射递送系统,其中:
所述多个叶子包括第一叶子库和第二叶子库,所述第一叶子库布置在所述束轴线的第一侧,所述第二叶子库布置在所述束轴线的、与所述束轴线的所述第一侧相反的第二侧。
8.如权利要求1所述的辐射递送系统,其中,所述处理装置用于执行以下操作来基于所述俯视图像确定针对所述MLC的孔径是否对应于指定的孔径:
从所述俯视图像确定所述多个叶子的叶子位置;
把来自所述俯视图像的叶子位置和与所述指定的孔径相关联的附加叶子位置进行比较,以确定所述叶子位置和所述附加叶子位置之间的差别;
确定所述差别小于阈值;以及
确定所述叶子位置与所述附加叶子位置之间存在匹配。
9.如权利要求1所述的辐射递送系统,其中,所述倾斜视角图像包括梯形失真效应,其中,所述俯视图像仿真了如果所述图像传感器的方向平行于所述束轴线并大体上定位在所述束轴线上时可能生成的所述多个叶子的视图。
10.如权利要求1所述的辐射递送系统,还包括:
成像装置,包括所述图像传感器和传感器控制板,其中,所述传感器控制板与所述图像传感器分开并被定位成离开所述束轴线。
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