[发明专利]阻抗位移及漂移检测和校正有效
申请号: | 201680035021.4 | 申请日: | 2016-06-20 |
公开(公告)号: | CN107750148B | 公开(公告)日: | 2021-01-01 |
发明(设计)人: | Y·马里宁;A·希尔;C·汤普森 | 申请(专利权)人: | 圣犹达医疗用品心脏病学部门有限公司 |
主分类号: | A61B34/20 | 分类号: | A61B34/20;A61B5/00;A61B5/06;A61B1/00;A61M25/01 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人: | 王勇;王博 |
地址: | 美国明*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阻抗 位移 漂移 检测 校正 | ||
1.一种用于检测基于阻抗的坐标系中的阻抗位移的计算机执行的方法,包括:
接收基于阻抗的坐标系中电极的阻抗定位和基于磁的坐标系中磁位置传感器的磁定位;
使用所述基于阻抗的坐标系和所述基于磁的坐标系之间的电磁配准来计算所述磁位置传感器的转换阻抗定位;
确定所述磁位置传感器的转换阻抗定位和所述磁位置传感器的磁定位之间的差异;
计算所述磁位置传感器的转换阻抗定位和所述磁位置传感器的磁定位之间的差异的幅度;
计算所述磁位置传感器的转换阻抗定位和所述磁位置传感器的磁定位之间的差异的统计显著性;
如果所述差异的幅度超过阈值并且所述差异的统计显著性超过阈值,则确定存在阻抗位移;以及
基于与所述电极的阻抗定位相关联的置信度量来对所述电极的阻抗定位进行过滤,其中所述置信度量基于所述电极关于所述电磁配准的定位的阻抗定位。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括:
当所述电极的阻抗定位位于所述电磁配准的定位外部时分配低置信度量;以及
基于所分配的低置信度量来过滤掉所述电极的阻抗定位。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述方法包括:
确定第一时间标度上的所述差异的平均值;以及
确定第二时间标度上的所述差异的协方差,其中所述第二时间标度是比所述第一时间标度更长的时间标度。
4.根据权利要求3所述的方法,其中所述方法包括基于所述差异的平均值和所述差异的协方差来计算所述统计显著性。
5.根据权利要求3所述的方法,其中所述方法包括计算所述第一时间标度上的所述差异的平均值的幅度。
6.根据权利要求3所述的方法,还包括施加电磁配准以响应于所述阻抗位移的确定使用所述电磁配准将来自基于位移阻抗的坐标系的所述电极的位移阻抗定位转换为基于磁的坐标系中所述电极的无位移磁位置。
7.根据权利要求1所述的方法,其中基于导管上布置的电极在所述基于阻抗的坐标系中的阻抗定位和所述导管上布置的磁位置传感器在所述基于磁的坐标系中的磁定位来计算所述电磁配准。
8.根据权利要求1所述的方法,还包括响应于确定存在所述阻抗位移来向使用者提供采取校正动作的指示。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述电极和所述磁位置传感器布置在相同导管上。
10.一种用于校正基于阻抗的坐标系中的阻抗位移的方法,包括:
接收在基于位移阻抗的坐标系中电极的位移阻抗定位,其中:
利用所述电极的经过滤的阻抗定位来确定所述电极的位移阻抗定位,
基于与所述电极的阻抗定位相关联的置信度量来确定所述电极的经过滤的阻抗定位,以及
所述置信度量基于所述电极关于基于阻抗的坐标系和基于磁的坐标系之间的电磁配准的定位的阻抗定位;以及
应用电磁配准来使用所述电磁配准将来自所述基于位移阻抗的坐标系的所述电极的位移阻抗定位转换为基于磁的坐标系中所述电极的位移校正定位。
11.根据权利要求10所述的方法,其中所述方法包括生成所述电磁配准。
12.根据权利要求11所述的方法,其中:
生成所述电磁配准包括基于与所述电极的位移阻抗定位相关联的阻抗位移来生成所述基于位移阻抗的坐标系和所述基于磁的坐标系之间的新的直接电磁配准;以及
应用所述电磁配准包括应用所述新的直接电磁配准至所述电极的位移阻抗定位。
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