[发明专利]校正乱真像素方法、计算机可读存储介质和图像处理装置有效

专利信息
申请号: 201680037758.X 申请日: 2016-06-10
公开(公告)号: CN107810630B 公开(公告)日: 2020-07-24
发明(设计)人: 阿莫里·萨拉加吉亚;阿兰·迪朗 申请(专利权)人: 优利斯公司
主分类号: H04N5/33 分类号: H04N5/33;H04N5/365;H04N5/367
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 王小衡;任庆威
地址: 法国沃雷*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 校正 乱真 像素 方法 计算机 可读 存储 介质 图像 处理 装置
【权利要求书】:

1.一种校正对红外辐射敏感的成像装置的像素阵列(102)的乱真像素的方法,所述方法包括:

通过所述成像装置的处理装置(202)接收由所述像素阵列(102)采集到的第一输入图像(RAW),并且通过将增益值和偏移值应用至所述第一输入图像中的像素的像素值来校正所述第一输入图像;

在校正的第一输入图像中检测出至少一个乱真像素,并且将所述至少一个乱真像素添加至乱真像素的列表(LSPUR);

通过所述处理装置(202)接收由所述像素阵列(102)采集到的第二输入图像(RAW),并且通过将所述增益值和偏移值应用至所述第二输入图像中的像素的像素值来校正所述第二输入图像;并且

基于校正的第一输入图像和校正的第二输入图像,针对所述至少一个乱真像素,计算增益校正值和偏移校正值(sOff,sGain)。

2.根据权利要求1所述的方法,进一步包括通过应用所述增益校正值和偏移校正值以校正由所述像素阵列(102)采集到的第三输入图像中的至少一个乱真像素的值并且检测所述至少一个乱真像素在第三图像中是否仍被检测为乱真像素来验证所述增益校正值和偏移校正值(sOff,sGain)。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述第三输入图像在不同于所述第一输入图像和所述第二输入图像中的每个的像素阵列温度的像素阵列温度下被采集到。

4.根据权利要求2或3所述的方法,进一步包括在计算所述增益校正值和偏移校正值之前,将至少一个检测出的乱真像素添加至坏像素列表,并且如果所述增益校正值和偏移校正值在验证步骤期间通过了验证,则将所述至少一个检测出的乱真像素从所述坏像素列表中移除。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,所述像素阵列包括像素列,每列与对应的参考像素相关联,并且其中校正所述第一输入图像和所述第二输入图像包括:

基于所述输入图像以及表示由所述像素阵列的所述参考像素引入的列扩展的列分量向量(VCOL),通过估计在所述输入图像中出现的所述列扩展的水平,确定第一比例因子(α);

基于所述第一比例因子与所述列分量向量(VCOL)的值的乘积,生成列偏移值(αVCOL(x));

基于所述输入图像以及表示由所述像素阵列引入的2D离差的2D离差矩阵(OFFDISP),通过估计在所述输入图像中出现的所述2D离差的水平,确定第二比例因子(β);

基于所述第二比例因子与所述2D离差矩阵(OFFDISP)的值的乘积,生成像素偏移值(βOFFDISP(x,y));并且

通过应用所述列和所述像素偏移值,生成校正图像(CORR)。

6.根据权利要求5所述的方法,其中,所述校正图像(CORR)是基于如下等式而生成的:

CORR(x,y)=GAIN(x,y)×(RAW(x,y)-α.OFFCOL(x,y)-β.OFFDISP(x,y)-γ)

其中,RAW为所述输入图像,α和β为比例因子,γ为增益校正值,GAIN(x,y)为增益值,OFFCOL(x,y)和OFFDISP(x,y)为偏移值,OFFCOL为在其行的每行中包括所述列向量VCOL的矩阵,OFFDISP为参考离差矩阵。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于优利斯公司,未经优利斯公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201680037758.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top