[发明专利]校正乱真像素方法、计算机可读存储介质和图像处理装置

说明书

本发明涉及一种用于校正对红外射线敏感的图像采集装置的像素阵列中的坏像素的方法。所述方法包括：接收第一输入图像(RAW)并且通过应用增益值和偏移值来校正所述第一输入图像，在校正的第一输入图像中检测出至少一个坏像素并且将所述至少一个坏像素添加至坏像素列表(L_SPUR)，接收第二输入图像(RAW)并且通过应用所述增益值和偏移值来校正所述第二输入图像，并且基于校正的第一输入图像和校正的第二输入图像而针对所述至少一个坏像素计算增益校正值和偏移校正值(s_off，s_Gain)。

技术领域

本公开涉及红外成像装置领域，并且具体涉及用于校正由对红外光敏感的像素阵列采集到的图像中的乱真像素(spurious pixels)的方法和装置。

背景技术

诸如微测辐射热计或冷却IR成像装置的红外(IR)成像装置包括形成像素阵列的IR敏感检测器阵列。为了校正这种像素阵列的像素之间的空间非均匀性，通常在显示采集到的图像之前，将偏移和增益校正应用至采集到的图像的每个像素信号(或“像素值”)。在设备的内部初步校准阶段期间，在受控制的温度下使用均匀发射源(黑体)来生成偏移值和增益值，并且由成像装置存储。这种空间非均匀性不仅随时间变化，而且还基于成像装置的光学零件、机械零件和电子零件的温度变化，并且因此经常在成像装置中使用内部机械快门来帮助图像校正。这涉及当关闭快门时周期性地采集图像以获得相对均匀的场景的参考图像，然后该参考图像可以被用于校准。

普遍的是，按照这种红外成像装置的制造工艺，在制造商的初始校准阶段结束时，像素阵列中的一个或多个像素被宣布为不可操作。这种像素在本领域中通常被称为“坏像素”，并且其在由成像装置存储的可操作性图中被识别出。由坏像素生成的像素值通常不可靠，因此它们的像素值由基于图像中的相邻像素生成的值来代替。

此外，已经发现，在这种成像装置的使用寿命期间，一个或多个初始可操作的像素的信号行为可能不再被其初始校准参数可接受地描述。这可能源于各种物理改变，或者甚至源于例如由在传感器组件中留下或释放的微小内部运动粒子所造成的机械损伤。在此将把这些像素称为乱真像素。这种像素未被列在初始可操作性图中，并且其可以劣化图像质量。

在装备了快门的成像装置的情况下，被公布为FR3009388的法国专利申请公开了一种在任何快门关闭期间识别这种乱真像素的方法，给出了用于可操作性图的周期性更新的手段。

然而，使用快门存在几个缺点，比如额外的重量和成本，以及该组件的脆弱性。此外，对于特定应用，因为快门关闭和发生校准时所损失的时间，快门的使用是不可接受的。在该校准期间，不能采集场景的图像。

在无快门成像装置中，存在将这种乱真像素从图像场景中识别出来的技术技术性困难，特别是如果像素值在采集到的图像的纹理区域。

假设可以识别出乱真像素，这种乱真像素也只能被添加至坏像素列表。然而，如果成像装置在其使用寿命期间接收例如多次冲击，则在图像中的乱真像素的密度可能不再是可忽略不计的点处，将会产生图像劣化。

因此在本领域，特别是对于无快门红外成像，需要一种用于检测乱真像素、至少用于更新可操作性图、而且还用于将被错误校准的特定乱真像素进行再校准的装置和方法。

发明内容

本说明书的实施例的目的是至少部分地解决现有技术中的一个或多个需求。