[发明专利]测距装置有效
申请号: | 201680042256.6 | 申请日: | 2016-07-14 |
公开(公告)号: | CN107850664B | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
发明(设计)人: | 中村清治;森圭一 | 申请(专利权)人: | 新唐科技日本株式会社 |
主分类号: | G01S7/497 | 分类号: | G01S7/497;G01S17/10;G01S17/894 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 高迪 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测距 装置 | ||
1.一种测距装置,该测距装置利用飞行时间方式,具备:
光源,发出光;
光源控制部,在规定的定时指示所述光源发出光;
受光部,以二维状配置有接受入射光的多个像素;
曝光控制部,对所述受光部进行曝光指示;以及
信号处理部,根据所述受光部接受的信号计算到被摄体的距离数据,并且,判断干涉的发生的有无,
所述多个像素分别包括光电转换部、蓄积部以及读出门,所述光电转换部将入射光转换为电荷,所述蓄积部蓄积电荷,所述读出门使由所述光电转换部转换后的电荷穿过以到达所述蓄积部,
所述多个像素由第一像素和第二像素构成,所述第一像素,通过具有规定的定时的第一读出控制信号使所述读出门开闭,所述第二像素,通过具有与所述第一读出控制信号不同的定时的第二读出控制信号使所述读出门开闭,
所述曝光控制部,向所述受光部输出所述第一读出控制信号和所述第二读出控制信号,从而进行曝光指示,
所述受光部,将与所述蓄积部所蓄积的电荷量对应的信号输出到所述信号处理部,
所述信号处理部,针对基于所述第一像素的所述读出门打开的期间以及所述第二像素的所述读出门打开的期间的不同的判断基准,在相同的所述像素的示出电荷量的信号的信号电平的每个曝光期间的比率、或者、所述第一像素的信号电平和所述第二像素的信号电平的比率的任一方或双方,相对于所述判断基准超过规定的阈值的情况下,判断为发生干涉,
其中,在相邻的所述第一像素和所述第二像素各自的示出电荷量的信号的信号电平的比率,超过相对于所述第一像素的所述读出门打开的期间和所述第二像素的所述读出门打开的期间的比率的规定的阈值的情况下,判断为发生干涉。
2.如权利要求1所述的测距装置,
所述光源控制部,在所述第一像素的读出门打开的期间、或所述第二像素的所述读出门打开的期间的任一方不发出发光指示,
所述曝光控制部,以所述第一像素的所述读出门打开的期间与所述第二像素的所述读出门打开的期间不重叠的方式进行控制,
所述信号处理部,确定所述受光部按每个所述像素输出的信号之中的不包含所述光源发出的光的反射光的信号,计算所述第一像素以及所述第二像素的不包含所述光源发出的光的反射光的信号的信号电平的比率。
3.如权利要求1所述的测距装置,
所述像素包括第一蓄积部、第二蓄积部以及第三蓄积部,所述第一蓄积部,在与所述光源的发光定时同步的第一曝光期间曝光来蓄积电荷,所述第二蓄积部,在与所述光源的发光定时同步且与所述第一曝光期间不同的第二曝光期间曝光来蓄积电荷,所述第三蓄积部,在不包含所述光源发出的光的反射光的第三曝光期间曝光来蓄积电荷,
所述信号处理部,对于所述第一像素和所述第二像素,计算所述第一蓄积部的所述信号电平之间、所述第二蓄积部的所述信号电平之间、以及所述第三蓄积部的所述信号电平之间的比率,在三个所述信号电平之间的比率之中的至少一个、与所述第一像素的所述读出门打开的期间和所述第二像素的所述读出门打开的期间的比率不同的情况下,判断为发生干涉。
4.如权利要求1所述的测距装置,
所述像素包括第一蓄积部、第二蓄积部以及第三蓄积部,所述第一蓄积部,在与所述光源的发光定时同步的第一曝光期间曝光来蓄积电荷,所述第二蓄积部,在与所述光源的发光定时同步且所述第一曝光期间之后的第二曝光期间曝光来蓄积电荷,所述第三蓄积部,在与所述光源的发光定时同步且所述第二曝光期间之后的第三曝光期间曝光来蓄积电荷,
所述信号处理部,对于所述第一像素和所述第二像素,计算所述第一蓄积部和所述第三蓄积部之中的信号电平小的一方的所述信号电平之间、所述第二蓄积部的信号电平之间、以及所述第一蓄积部和所述第三蓄积部之中的信号电平大的一方的所述信号电平之间的比率,在三个所述信号电平的比率之中的至少一个,超过相对于所述第一像素的所述读出门打开的期间和所述第二像素的所述读出门打开的期间的比率的规定的阈值的情况下,判断为发生干涉。
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