[发明专利]测距装置

说明书

测距装置(101)具备：光源(102)；光源控制部(103)；像素(108)被配置为二维状的受光部(104)；曝光控制部(106)；以及信号处理部(107)，受光部(104)，将与蓄积部(112)所蓄积的电荷量对应的信号输出到信号处理部(107)，信号处理部(107)，针对基于第一像素群的像素(108a)的读出门(111)打开的期间以及第二像素群的像素(108b)的读出门(111)打开的期间的不同的判断基准，在相同的像素(108)的示出电荷量的信号的信号电平的每个曝光期间的比率、或者、第一像素群的像素(108a)的信号电平和第二像素群的像素(108b)的信号电平的比率的任一方或双方，相对于判断基准超过规定的阈值的情况下，判断为发生干涉。

技术领域

本公开涉及，对发出的光照射被摄体后返回来的反射光进行接受，从而测量到位于测距区域的被摄体的距离的三维测距技术。

背景技术

存在如下方式(以下，TOF方式)的测距技术，即，根据将光的脉冲照射到想要测距的空间后，直到其反射光返回为止的飞行时间(TOF：Time Of Flight)，计算到物体的距离。在TOF方式中存在如下的问题，即，在除了本身测距装置发出的光以外的、其他的测距装置发出的光进入的情况下，不能准确地进行距离信息的测距。

为了防止与其他的测距装置发出的光的干涉，例如在专利文献1中，在预先知道会有发生干涉的可能性的测距装置，且该测距装置被固定在墙壁等而被使用的状态下，根据在某特定的干扰检测期间是否接受来自其他的测距装置的反射光，从而预先检测干涉的发生。而且，公开如下的方法，即，在实际发生干涉之前，将测距装置的发光脉冲的定时复位为预先决定的相位。

并且，在专利文献2中还公开如下的技术，即，在CW(Continuos Wave)－TOF方式的测距装置中，在发光的一个周期内将相位不同的曝光脉冲信号进入，并且，按发光、曝光的每一个周期随机设定等待时间，从而即使干涉光进入也向多个电荷蓄积部进入相同程度，据此，不能进行干涉的检测，但是，消除干涉的影响。

(现有技术文献)

(专利文献)

专利文献1：日本特开2013－235390号公报

专利文献2：日本特开2013－76645号公报

在利用TOF方式进行被摄体的测距时存在如下的课题，即，在除了本身测距装置发出的光以外的、其他的测距装置发出的光进入的情况下，不能准确地进行距离信息的测距。

对此，在专利文献1中，仅在预先知道有可能发生干涉的其他的测距装置状态下、且该测距装置被固定在墙壁等的情况下，能够检测干涉。但是，在测距装置的位置没有被固定、且不明确何时发生与其他的测距装置的发光脉冲的干涉的状态下，难以检测干涉。

并且，在专利文献2中，在CW－TOF方式的测距装置中，能够消除干涉的影响，但是，不能进行检测本身。因此，存在如下的课题，即，例如，在信号饱和时不能区别是基于反射光的影响还是基于干涉光的影响，因此，不能准确地进行AE(Automatic Exposure)。

发明内容

于是，本公开涉及的测距装置的目的在于，确实检测来自其他的测距装置的发光脉冲所产生的干涉，从而抑制其影响。