[发明专利]检测碳氢化合物渗漏的取样技术

说明书

方法、系统和设备包括在计算机存储介质上进行编码以用于检测地下区域中的碳氢化合物的渗漏的程序。一方面，方法包括在勘探地理区域中在距离地面的多个不同取样深度处检测碳氢化合物渗漏，比较多个不同取样深度处的碳氢化合物渗漏中的每一个，其中参考深度处的碳氢化合物渗漏是已知的，和基于比较结果确定通过勘探地理区域的碳氢化合物渗漏。

相关申请的交叉引用

本申请要求了于2015年5月20日提出申请的美国专利申请第62/164,277号的优先权，其全部内容通过引用在此合并。

技术领域

本发明涉及对碳氢化合物从地下区域渗漏的检测。

背景技术

可以从特定的地下区域以地球化学的方式检测例如油和气体的碳氢化合物。由于全球对能源需求的增长，包括油气藏的地下区域的识别变得越来越难进行定位和访问。在过去，通常在可见油苗(宏渗漏)附近进行钻井从而访问油气藏。现在，宏渗漏相对罕见，而涉及油气藏识别的努力则主要聚焦在隐形油渗漏(微渗漏)的检测。不同的地球化学方法可以在近地表勘探被使用，以测量与微渗漏相关联的数据。例如，可以使用敏感仪器用于直接和间接微渗漏检测方法。微渗漏检测方法的技术和灵敏性的提高可以有益于降低油气勘探的风险和有效地定位地下油气藏。

发明内容

本说明书描述了与来自地下区域的碳氢化合物的渗漏的检测相关的地球化学方法。

在一些示例中，针对碳氢化合物渗漏对地理区域进行取样的方法包括以下步骤：在勘探地理区域中在距离地面的第一取样深度处检测碳氢化合物渗漏；在距离地面的第二取样深度处检测碳氢化合物渗漏，所述第二取样深度比所述第一取样深度深；在距离地面的第三取样深度处检测碳氢化合物渗漏，所述第三取样深度比所述第二取样深度深；将第一取样深度处的碳氢化合物渗漏、第二取样深度处的碳氢化合物渗漏和第三取样深度处的碳氢化合物渗漏中的每一个与比第一取样深度、第二取样深度和第三取样深度深的参考深度处的碳氢化合物渗漏进行比较，其中参考深度处的碳氢化合物渗漏是已知的；和基于将第一取样深度处的碳氢化合物渗漏、第二取样深度处的碳氢化合物渗漏和第三取样深度处的碳氢化合物渗漏中的每一个与参考深度处的碳氢化合物渗漏进行比较的结果确定通过勘探地理区域的碳氢化合物渗漏。

在一些实施例中，在第一取样深度处检测碳氢化合物渗漏、在第二取样深度处检测碳氢化合物渗漏和在第三取样深度处检测碳氢化合物渗漏的步骤包括：将多个第一碳氢化合物传感器定位在第一取样深度处；将多个第二碳氢化合物传感器定位在第二取样深度处；和将多个第三碳氢化合物传感器定位在第三取样深度处，其中多个第一碳氢化合物传感器、多个第二碳氢化合物传感器和多个第三碳氢化合物传感器被配置成分别检测第一取样深度处的碳氢化合物、第二取样深度处的碳氢化合物和第三取样深度处的碳氢化合物。

在一些实施例中，在第一取样深度处检测碳氢化合物渗漏、在第二取样深度处检测碳氢化合物渗漏和在第三取样深度处检测碳氢化合物渗漏的步骤包括：将多个第一碳氢化合物传感器定位在第一取样深度处；将多个第二碳氢化合物传感器定位在第二取样深度处；和将多个第三碳氢化合物传感器定位在第三取样深度处，其中多个第一碳氢化合物传感器、多个第二碳氢化合物传感器和多个第三碳氢化合物传感器被配置成分别检测第一取样深度处的碳氢化合物、第二取样深度处的碳氢化合物和第三取样深度处的碳氢化合物。

在一些实施例中，将多个第一碳氢化合物传感器定位在第一取样深度处的步骤包括：将多个第一碳氢化合物传感器以二维阵列的方式定位在第一取样深度处。第一取样深度可以距离地面大约1.0米。

在一些实施例中，将多个第二碳氢化合物传感器定位在第二取样深度处的步骤包括：将多个第二碳氢化合物传感器以二维阵列的方式定位在第二取样深度处。第二取样深度可以距离地面大约5.0米。

在一些实施例中，将多个第三碳氢化合物传感器定位在第三取样深度处的步骤包括：将多个第三碳氢化合物传感器以二维阵列的方式定位在第三取样深度处。第三取样深度可以距离地面大于5.0米。