[发明专利]技术溢出效应分析方法在审

专利信息
申请号: 201680043026.1 申请日: 2016-07-13
公开(公告)号: CN107924549A 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 洪基喆;沈奇骏;李南勳;黄有琎;徐源喆;卢孟锡 申请(专利权)人: 技术保证基金
主分类号: G06Q50/18 分类号: G06Q50/18;G06Q10/06
代理公司: 北京品源专利代理有限公司11332 代理人: 吕琳,宋东颖
地址: 韩国釜*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 技术 溢出 效应 分析 方法
【权利要求书】:

1.一种技术溢出效应分析方法,其通过包括中央处理装置、储存装置及储存器的常规的个人计算机中实现处理,其特征在于,包括:

步骤a):从由分类为预先设定的技术分类的多个专利组成的专利数据中,将包括两个以上的技术分类的专利作为对象来提取共同技术分类信息;

步骤b):计算关于所获得的技术共同分类信息的各个技术分类的直接溢出度;

步骤c):利用所述直接溢出度来计算综合溢出度;

步骤d):将最小支持度设定为0.1%及0.05%,将最小可靠度设定为0.1%及0.05%,并以最小支持度0.1%及最小可靠度0.1%作为基准来设定第1专利组,以最小支持度0.05%及最小可靠度0.1%作为基准来设定第2专利组,以最小支持度0.1%及最小可靠度0.05%作为基准来设定第3专利组,以最小支持度0.05%及最小可靠度0.05%作为基准来设定第4专利组,并且给包括在各个专利组的专利数量进行分级;

步骤e):对于各个所述第1至第4专利组,适用分析影响度的第1模型、分析影响度及被影响度的第2模型、求得影响度与感应度系数的乘积的第3模型、影响度与感应度系数的乘积加上被影响度与影响力系数的乘积的第4模型、对上述第2模型的影响度及被影响度分别进行标准化并求和的第5模型、已标准化的影响度与感应度系数的乘积加上已标准化的被影响度与影响力系数的乘积的第6模型,来分析所述最小支持度及最小可靠度对溢出力所起的影响。

2.根据权利要求1所述的技术溢出效应分析方法,其特征在于,

所述步骤b)的直接溢出度是由通过如下数学式1计算的可靠度及通过如下数学式2计算的支持度来构成,

数学式1

数学式2

3.根据权利要求1所述的技术溢出效应分析方法,其特征在于,

所述步骤c)包括:

利用如下数学式3将所述直接溢出度变换成响应矩阵的步骤;

对于所述响应矩阵,利用如下数学式4来求出原始数据矩阵的步骤;

将所述原始数据矩阵通过如下数学式5进行标准化的步骤;以及

通过如下数学式6对已标准化的所述原始数据矩阵进行处理,求得综合溢出度矩阵的步骤,

数学式3

Xk≈[xijk]]]>

其中,X表示技术分类间响应矩阵;x表示技术分类间响应矩阵的元素;k表示专利编号;xij表示技术分类i对技术分类j的影响大小,

数学式4

aij=1HΣk=1Hxijk,A=[aij]]]>

其中,A表示影响力比较矩阵;aij表示技术分类i对技术分类j的影响大小;H表示分析对象专利数量,

数学式5

s=max(max1≤i≤nΣj=1naij,max1≤j≤nΣi=1naij),D=As=[dij]]]>

其中,A表示原始数据矩阵;D表示已标准化的原始数据矩阵,

数学式6

limm→∞(I+D+D2+D3+···+Dm)=(I-D)-1]]>

T=[tij]=(D+D2+D3+…+Dm)=D(I-D)-1

其中,I表示单位矩阵;D表示已标准化的原始数据矩阵;T表示综合溢出度矩阵。

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