[发明专利]技术溢出效应分析方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种关于专利的技术溢出效应(technical spillover effect)的分析方法，尤其地，涉及一种能够利用专利技术分类来对专利的技术溢出效应进行评价的方法。

背景技术

通常，在不同的技术领域之间，通过持续的技术知识的交流所派生出的技术融合，是能克服断断续续的技术开发的局限性、且能提出可以导出创新技术和产品的方向性的一种手段。

基于这种技术知识的交流会引起技术溢出效应。此时，技术溢出效应是指在特定技术领域中获得的技术可以影响其他领域的技术开发的效应。由此，技术溢出效应被认为是以新产品开发及提高生产活动的效率性等方式诱发其他领域激活的效应。

因此，考察技术领域之间的技术知识流的水平，并由此，以综合性的观点分析技术溢出效应成为能够通过技术融合来确保研究开发的方向性的重要基础。

另一方面，专利作为技术可靠度高的发明的产物，被认为可以代表技术创新及技术开发的趋势。这种专利在专利局以规定的方法进行技术分类，并且这种技术分类被认为具有相当高的可靠性。因此，通过对专利的技术分类信息的分析，可以掌握在各种技术分类单元中产生的技术知识的流动，进而，可以基于技术知识网络的构建来推定技术溢出效应水平。因此，很多用于分析技术溢出效应的研究大多采用通过专利信息构建技术知识网络，并对此进行分析的方法。

然而，现有的技术溢出效应分析方法需要过多的进行定性评价的时间及精力，并且，利用专利技术分类分析的溢出效应分析方法存在个别专利具有的多个技术分类之间的关系模糊的问题。

另外，利用专利申请信息和工业关联表(interindustry relations table)的溢出效应分析方法，由于不使用技术单元(technical unit)而使用工业单元(industrial unit)上的接近法(approach method)，因此存在技术单元上的分析困难的问题。

[现有技术文献]

[专利文献]

(专利文献1)KR1414502B

发明内容

本发明要解决的技术问题

为了解决如上所述的现有技术的问题，本发明提供了一种技术溢出效应分析方法，其能够更为准确地阐明个别专利所被赋予的多个技术分类之间的关系，并可以由此分析对于多个技术分类的技术溢出效应。

另外，本发明提供一种技术溢出效应分析方法，其不仅考虑技术单元，还考虑工业单元。

技术方案

在包括中央处理装置、储存装置及储存器的常规个人计算机中，被处理的技术溢出效应分析方法，其包括：

步骤a)：从由分类为预先设定的技术分类的多个专利组成的专利数据中，将包括两个以上的技术分类的专利作为对象来提取出共同技术分类信息；

步骤b)：计算关于所获得的技术共同分类信息的各个技术分类的直接溢出度；

步骤c)：利用上述直接溢出度来计算综合溢出度；

步骤d)：将最小支持度设定为0.1％及0.05％，将最小可靠度设定为0.1％及0.05％，并将最小支持度0.1％及最小可靠度0.1％作为基准来设定第1专利组，将最小支持度0.05％及最小可靠度0.1％作为基准来设定第2专利组，将最小支持度0.1％及最小可靠度0.05％作为基准来设定第3专利组，将最小支持度0.05％及最小可靠度0.05％作为基准来设定第4专利组，从而给包括在各个专利组的专利数量进行分级(graded)；

步骤e)：对各个上述第1专利组至第4专利组，适用分析影响度的第1模型、分析影响度及被影响度的第2模型、求得影响度与感应度系数的乘积的第3模型、影响度与感应度系数的乘积加上被影响度与影响力系数的乘积的第4模型、对上述第2模型的影响度及被影响度分别进行标准化并求和的第5模型、已标准化的影响度与感应度系数的乘积加上已标准化的被影响度与影响力系数的乘积的第6模型，从而分析上述最小支持度及最小可靠度对溢出力所产生的影响。

上述步骤b)的直接溢出度是由通过如下数学式1计算的可靠度及通过如下数学式2计算的支持度来构成。

数学式1

数学式2