[发明专利]微通道板及电子倍增体有效

专利信息
申请号: 201680050641.5 申请日: 2016-08-09
公开(公告)号: CN107924807B 公开(公告)日: 2019-12-20
发明(设计)人: 永田贵章;浜名康全;西村一;中村公嗣 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: H01J43/24 分类号: H01J43/24;H01J9/12
代理公司: 11322 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 杨琦;黄浩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 通道 电子 倍增
【权利要求书】:

1.一种微通道板,其特征在于,

具备:

基体,具有表面、背面及侧面;

多个通道,从所述基体的所述表面贯通至所述背面;

第一膜,至少设置于所述通道的内壁面上;

第二膜,设置于所述第一膜上;以及

电极层,分别设置于所述基体的所述表面上及所述背面上,

所述第一膜由Al2O3形成,

所述第二膜由SiO2形成,

所述第一膜的厚度比所述第二膜的厚度厚。

2.根据权利要求1所述的微通道板,其中,

在使用荧光X射线分析法算出的情况下,所述第一膜的厚度为10埃以上的厚度。

3.根据权利要求1或2所述的微通道板,其中,

所述基体由绝缘性材料形成,

在所述通道的内壁面和所述第一膜之间形成有电阻膜。

4.根据权利要求1或2所述的微通道板,其中,

所述基体由电阻性材料形成。

5.根据权利要求1或2所述的微通道板,其中,

所述第一膜及所述第二膜形成于所述基体的所述表面上、所述背面上及所述侧面上,

所述电极层形成于所述第二膜上。

6.根据权利要求1或2所述的微通道板,其中,

所述电极层以与所述基体的所述表面及所述背面接触的方式形成,

所述第一膜及所述第二膜形成于所述电极层上、所述基体的所述表面上、所述背面上及所述侧面上。

7.根据权利要求3所述的微通道板,其中,

所述电阻膜、所述第一膜及所述第二膜形成于所述基体的所述表面上、所述背面上及所述侧面上,

所述电极层形成于所述第二膜上。

8.根据权利要求3所述的微通道板,其中,

所述电极层以与所述基体的所述表面及所述背面接触的方式形成,

所述电阻膜、所述第一膜及所述第二膜形成于所述基体的所述表面上、所述背面上及所述侧面上。

9.根据权利要求1或2所述的微通道板,其中,

所述第一膜及所述第二膜为通过原子层堆积法形成的层。

10.根据权利要求3所述的微通道板,其中,

所述第一膜及所述第二膜为通过原子层堆积法形成的层。

11.根据权利要求4所述的微通道板,其中,

所述第一膜及所述第二膜为通过原子层堆积法形成的层。

12.根据权利要求5所述的微通道板,其中,

所述第一膜及所述第二膜为通过原子层堆积法形成的层。

13.根据权利要求6所述的微通道板,其中,

所述第一膜及所述第二膜为通过原子层堆积法形成的层。

14.根据权利要求7所述的微通道板,其中,

所述第一膜及所述第二膜为通过原子层堆积法形成的层。

15.根据权利要求8所述的微通道板,其中,

所述第一膜及所述第二膜为通过原子层堆积法形成的层。

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