[发明专利]用于调整细胞仪测量的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201680051655.9 申请日: 2016-07-14
公开(公告)号: CN108351287B 公开(公告)日: 2019-08-09
发明(设计)人: 许衡 申请(专利权)人: 贝克顿迪金森公司
主分类号: G01N15/14 分类号: G01N15/14
代理公司: 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 代理人: 王达佐;王艳春
地址: 美国新*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 侧向散射 前向散射 染色样本 荧光 流式细胞 测量 图区 关联 位置处 细胞仪 减去
【权利要求书】:

1.用于操作流式细胞仪的方法,所述流式细胞仪具有前向散射检测器、侧向散射检测器和多个荧光发射检测器,每个荧光发射检测器对应于荧光通道,所述方法包括以下步骤:

对于对象的未染色样本的多个第一细胞群体的一个或多个事件,使用所述流式细胞仪对所述前向散射检测器处的一个或多个前向散射值、所述侧向散射检测器处的一个或多个侧向散射值以及所述多个荧光发射检测器中的一个或多个荧光发射检测器处的一个或多个荧光强度值进行测量;

至少部分地基于对所述未染色样本的所述多个第一细胞群体的所述一个或多个事件的所述一个或多个前向散射值、所述一个或多个侧向散射值以及所述一个或多个荧光强度值的测量,针对所述多个荧光发射检测器中的一个或多个荧光发射检测器,生成多个前向散射-侧向散射图区中的每个前向散射-侧向散射图区的平均荧光强度值;

对于所述对象的染色样本的多个第二细胞群体的一个或多个事件,使用所述流式细胞仪对一个或多个前向散射值、一个或多个侧向散射值以及所述多个荧光发射检测器中的一个或多个荧光发射检测器处的一个或多个荧光强度值进行测量;

确定所述染色样本的所述多个第二细胞群体的所述一个或多个事件的前向散射-侧向散射图位置;以及

对于所述染色样本的所述多个第二细胞群体的所述一个或多个事件中的每个事件,将与包含对于所述多个荧光发射检测器中的至少一个荧光发射检测器的、所述染色样本的所述多个第二细胞群体的事件的前向散射-侧向散射图位置的前向散射-侧向散射图区相关联的平均荧光强度值,从所述多个荧光发射检测器中的至少一个荧光发射检测器测量的该前向散射-侧向散射图位置处的、所述染色样本的所述多个第二细胞群体的事件的经测量的荧光强度值减去。

2.如权利要求1所述的方法,还包括:

至少部分地基于针对所述未染色样本测量的事件与针对所述染色样本测量的事件之间的比较,调整针对所述未染色样本测量的事件的前向散射-侧向散射图位置。

3.如权利要求2所述的方法,其中,所述调整的步骤包括:

调整所述未染色样本的事件的所述前向散射-侧向散射图的尺度,以使所述未染色样本的事件位置与所述染色样本的事件位置更紧密地匹配。

4.如权利要求1所述的方法,其中,前向散射-侧向散射图区限定为前向散射强度值和侧向散射强度值的非重叠范围的集合。

5.如权利要求4所述的方法,其中,所述区为正方形。

6.如权利要求4所述的方法,其中,所述区的尺寸至少部分地基于事件的所述前向散射-侧向散射图中的不同位置处的事件密度来选择。

7.如权利要求1所述的方法,其中,在所述多个荧光发射检测器处执行对未染色样本的一个或多个事件的一个或多个荧光强度值的测量,其中,对染色样本的一个或多个事件的一个或多个荧光强度值的测量是在用于测量所述未染色样本的所述一个或多个荧光强度值的相同的所述多个荧光发射检测器处执行的。

8.如权利要求7所述的方法,包括以下步骤:

对于所述染色样本的一个或多个事件中的每个事件,将与包含对于所述多个荧光发射检测器的、所述染色样本的事件的前向散射-侧向散射图位置的所述前向散射-侧向散射图区相关联的多个荧光强度值,从所述多个荧光发射检测器测量的该前向散射-侧向散射图位置处的、所述染色样本的事件的多个经测量的荧光强度值减去,

其中,从所述染色样本的经测量的荧光强度值减去的、与包含所述染色样本的事件的所述前向散射-侧向散射图位置的所述前向散射-侧向散射图区相关联的每个荧光强度值、作为所述染色样本的经测量的所述荧光强度值与相同的荧光发射检测器相关联。

9.如权利要求1所述的方法,其中,所述未染色样本和所述染色样本包括多个细胞类型。

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