[发明专利]结晶形式

权利要求书

1.(S)-2-(8-((5-氯嘧啶-2-基)(甲基)氨基)-2-氟-6,7,8,9-四氢-5H-吡啶并[3,2-b]吲哚-5-基)乙酸的结晶形式，其特征在于在X射线粉末衍射图中于以下衍射角2θ处存在峰：12.6°、14.0°及21.1°，其中该X射线粉末衍射图是在5±3％相对湿度下、在20±3％相对湿度下、在50±3％相对湿度下或在95±3％相对湿度下且在25±5℃温度下测量。

2.如权利要求1所述的(S)-2-(8-((5-氯嘧啶-2-基)(甲基)氨基)-2-氟-6,7,8,9-四氢-5H-吡啶并[3,2-b]吲哚-5-基)乙酸的结晶形式，其中：

a.在该X射线粉末衍射图中于以下衍射角2θ处存在峰：12.6°、14.0°、19.8°、20.0°、21.1°及26.4°，其中该X射线粉末衍射图是在5±3％相对湿度下且在25±5℃温度下测量；或

b.在该X射线粉末衍射图中于以下衍射角2θ处存在峰：12.6°、14.0°、19.7°、21.1°及26.4°，其中该X射线粉末衍射图是在20±3％相对湿度下且在25±5℃温度下测量；或

c.在该X射线粉末衍射图中于以下衍射角2θ处存在峰：12.6°、14.0°、19.5°、21.1°、21.4°及26.1°，其中该X射线粉末衍射图是在50±3％相对湿度下且在25±5℃温度下测量；或

d.在该X射线粉末衍射图中于以下衍射角2θ处存在峰：12.6°、14.0°、19.5°、21.1°、21.5°及26.0°，其中该X射线粉末衍射图是在95±3％相对湿度下且在25±5℃温度下测量。

3.如权利要求1所述的(S)-2-(8-((5-氯嘧啶-2-基)(甲基)氨基)-2-氟-6,7,8,9-四氢-5H-吡啶并[3,2-b]吲哚-5-基)乙酸的结晶形式，其中：

a.在该X射线粉末衍射图中于以下衍射角2θ处存在峰：12.6°、14.0°、15.6°、19.8°、20.0°、21.1°、23.7°、26.4°、27.5°及28.4°，其中该X射线粉末衍射图是在5±3％相对湿度下且在25±5℃温度下测量；或

b.在该X射线粉末衍射图中于以下衍射角2θ处存在峰：12.6°、14.0°、15.6°、19.7°、21.1°、23.3°、23.6°、26.4°、27.4°及28.4°，其中该X射线粉末衍射图是在20±3％相对湿度下且在25±5℃温度下测量；或

c.在该X射线粉末衍射图中于以下衍射角2θ处存在峰：12.6°、14.0°、15.2°、16.1°、19.5°、21.1°、21.4°、23.0°、26.1°及27.0°，其中该X射线粉末衍射图是在50±3％相对湿度下且在25±5℃温度下测量；或

d.在该X射线粉末衍射图中于以下衍射角2θ处存在峰：12.6°、14.0°、16.2°、18.9°、19.5°、21.1°、21.5°、22.9°、26.0°及27.0°，其中该X射线粉末衍射图是在95±3％相对湿度下且在25±5℃温度下测量。

4.如权利要求1所述的(S)-2-(8-((5-氯嘧啶-2-基)(甲基)氨基)-2-氟-6,7,8,9-四氢-5H-吡啶并[3,2-b]吲哚-5-基)乙酸的结晶形式，

a.其基本上显示如图1中所描绘的X射线粉末衍射图，其中该X射线粉末衍射图是在5±3％相对湿度下且在25±5℃温度下测量；或

b.其基本上显示如图2中所描绘的X射线粉末衍射图，其中该X射线粉末衍射图是在20±3％相对湿度下且在25±5℃温度下测量；或

c.其基本上显示如图3中所描绘的X射线粉末衍射图，其中该X射线粉末衍射图是在50±3％相对湿度下且在25±5℃温度下测量；或

d.其基本上显示如图4中所描绘的X射线粉末衍射图，其中该X射线粉末衍射图是在95±3％相对湿度下且在25±5℃温度下测量。

5.如权利要求1至4中任一项所述的(S)-2-(8-((5-氯嘧啶-2-基)(甲基)氨基)-2-氟-6,7,8,9-四氢-5H-吡啶并[3,2-b]吲哚-5-基)乙酸的结晶形式，其藉由差示扫描量热法测定显示在260±5℃至276±5℃的范围内的吸热事件。