[发明专利]包括多个雷达传感器的填料体积检测系统在审

专利信息
申请号: 201680057678.0 申请日: 2016-09-19
公开(公告)号: CN108139256A 公开(公告)日: 2018-06-08
发明(设计)人: 京特·基奇 申请(专利权)人: VEGA格里沙贝两合公司
主分类号: G01F22/00 分类号: G01F22/00;G01F23/00;G01F23/28;G01S13/42;G01S13/88;G01F23/284
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 瓮芳;陈桂香
地址: 德国沃*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 从设备 料位测量系统 主设备 传输控制信号 料位测量设备 多个从设备 雷达传感器 体积检测 填料表面 拓扑 检测 生产
【权利要求书】:

1.料位测量系统,所述料位测量系统用于确定容器中的填料表面的拓扑或填料的体积,并且所述料位测量系统包括:

第一料位测量设备(101),所述第一料位测量设备(101)被配置为主设备;

第二料位测量设备(102、103),所述第二料位测量设备(102、103)被配置为从设备,并且所述第二料位测量设备(102、103)以距所述主设备一定物理距离的方式连接至所述主设备;

其中,所述主设备被配置成向所述从设备传输控制信号,以便控制所述从设备。

2.根据权利要求1所述的料位测量系统,其中,

所述主设备(101)例如以双线回路的形式连接至外部能量供应器(104);并且

所述主设备被配置成向所述从设备(102、103)供应能量。

3.根据权利要求2所述的料位测量系统,其中,

所述主设备(101)被配置成是所述从设备(102、103)唯一的能量供应者。

4.根据上述权利要求中任一项所述的料位测量系统,其中,

至少一个所述控制信号被配置成通过所述从设备(102、103)来启动测量。

5.根据权利要求4所述的料位测量系统,其中,

所述从设备(102、103)没有被配置成独立地决定是否执行测量,而是需要来自所述主设备(101)的相应的所述控制信号以便启动测量。

6.根据上述权利要求中任一项所述的料位测量系统,其中,

所述从设备(102、103)被配置成检测回声曲线,根据所述回声曲线,能够确定所述从设备与所述填料表面之间的距离;并且

所述从设备被配置成向所述主设备(101)传输所述回声曲线或由所述从设备从所述回声曲线导出的数据。

7.根据权利要求6所述的料位测量系统,其中,

所述从设备(102、103)被配置成只有当所述从设备已经确定料位改变超过预定阈值时,才向所述主设备(101)传输回声曲线或从所述回声曲线导出的数据。

8.根据上述权利要求中任一项所述的料位测量系统,其中,

所述主设备(101)被配置成检测回声曲线,根据所述回声曲线,能够确定所述主设备与所述填料表面之间的距离;

所述主设备被配置成:根据由所有的所述从设备(102、103)向所述主设备传输的所述回声曲线或从所有的所述从设备导出然后被传输到所述主设备的所述数据并且根据单独检测到的所述回声曲线来计算所述填料表面的拓扑或所述填料的体积。

9.根据上述权利要求中任一项所述的料位测量系统,其中,

所述主设备(101)和所述从设备(102、103)各自包括位置传感器(107、105、106),根据所述位置传感器的数据,能够确定所述设备的位置,并且

所述从设备被配置成向所述主设备传输所述从设备的位置数据。

10.根据权利要求9所述的料位测量系统,其中,

所述主设备(101)被配置成接收从所有的所述从设备(102、103)传输过来的所述位置数据,并且所述主设备(101)被配置成当计算所述填料表面的拓扑或所述填料的体积时考虑所述位置数据。

11.根据权利要求8或9所述的料位测量系统,其中,

所述从设备(102、103)被配置成一旦所述从设备连接至所述主设备并投入运行,就自动确定所述从设备的位置数据并将所述从设备的所述位置数据传输到所述主设备(101)。

12.根据上述权利要求中任一项所述的料位测量系统,其中,

所述料位测量设备(101、102、103)被配置为雷达装置。

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