[发明专利]包括多个雷达传感器的填料体积检测系统

说明书

本发明涉及用于检测容器中的填料表面的拓扑或填料的体积的料位测量系统，所述料位测量系统包括主设备以及一个或多个从设备，其中，所述主设备被设计成向所述从设备传输控制信号。由于所述从设备不具有独立的料位测量设备的全部功能，所以可以经济地生产所述从设备。

技术领域

本发明涉及料位(fill level)测量。特别地，本发明涉及用于检测容器中的填料(filling material)表面的拓扑(topology)或填料的体积的料位测量系统、涉及用于检测容器中的填料表面的拓扑或填料的体积的方法、涉及程序元素和计算机可读介质。

背景技术

为了确定填料表面的拓扑(也称为表面轮廓)或为了确定散装材料的体积，可以使用料位测量设备来扫描填料表面。可替代地，可以使用包括多个料位测量设备的布置，可以根据该布置的测量数据来确定填料表面的拓扑或填料的体积。这些广泛的测量系统通常很复杂并且昂贵。

发明内容

本发明的目的在于提供一种高效、灵活和经济有效的用于检测容器中的填料表面的拓扑或填料的体积的测量系统。

这个目的可以通过独立权利要求的特征来实现。本发明的改进可以在从属权利要求和以下说明中找到。

本发明的第一方面涉及用于检测容器中的填料表面的拓扑或填料的体积的料位测量系统，这个系统包括第一料位测量设备和至少一个第二料位测量设备。所述第一料位测量设备是设计为主设备的料位测量设备，并且所述第二料位测量设备是设计为从设备的测量设备，所述第二料位测量设备中的各者以距所述主设备一定物理距离的方式连接至所述主设备。在这种情况下，所述主设备被设计成向所述从设备传输控制信号，以控制所述从设备。

此时，应该注意的是，如果在下文中仅讨论一个从设备，则还是可以设置多个对应的从设备。主设备可以特别地被设计成与大量的从设备连接(并联和/或串联)，并且可以特别地被设计成确定(通过与相应的从设备通信)有多少从设备连接至主设备。

主设备被设计成执行从设备无法独立执行的任务。例如，这些附加任务可以是协调系统的整个测量活动以及至少部分随后的评估活动。特别地，主设备负责控制系统的测量活动的时间顺序。主设备还可以完全或至少部分地接管从设备的测量数据的评估和管理。

主设备也可以通过相应的从设备来触发测量。

因此，从设备依赖于主设备，并且从设备不是可以在没有主设备的情况下用于料位测量的“独立设备”。由于从设备是不能完全独立地控制测量任务或完全地评估接收到的回声曲线(echo curve)的“精简”测量设备，因此，可以以比以前更经济有效的方式生产从设备。在这个上下文中，“完全地评估”应理解为特指检测表面的拓扑和/或计算位于传感器之下的散装材料的体积。

主设备和从设备可以通过相应的软件配置按其各自的角色定义。在这种情况下，主设备和从设备在硬件方面或在设备固件方面彼此之间没有区别。

主设备和从设备可以是根据引导微波原理辐射到自由空间或料位测量设备的料位雷达装置。然而，原则上，这些测量设备也可能是超声波传感器或激光传感器。单个传感器也可以与测量系统内的各种测量原理结合。

料位测量系统能够使用多个物理上分离的料位测量设备来确定散装物料仓中的表面轮廓(拓扑)和/或体积，所述测量设备中的一个测量设备用作主设备并接管所有其他测量设备(从设备)的信号的控制和评估。