[发明专利]角度检测装置有效
申请号: | 201680059558.4 | 申请日: | 2016-10-03 |
公开(公告)号: | CN108139232B | 公开(公告)日: | 2020-05-15 |
发明(设计)人: | 古川晃;尾崎航;川野佑 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G01D5/244 | 分类号: | G01D5/244;G01B7/30;G01B21/22;G01D5/12 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 邓晔;张鑫 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 角度 检测 装置 | ||
1.一种角度检测装置,具有:
角度检测器;
校正信号运算器,该校正信号运算器根据由所述角度检测器得到的正弦信号和余弦信号来生成校正信号;以及
角度运算器,该角度运算器根据由所述校正信号运算器所生成的所述校正信号来运算旋转机的角度信号,
该角度检测装置的特征在于,
所述校正信号运算器在将所述正弦信号或所述余弦信号中的任一个表示为第一检测信号而将另一个表示为第二检测信号,并将n设为自然数时,
对于第一偏移校正值X0、通过对所述第一检测信号的1次幂至n次幂分别乘以增益而得到的X1至Xn、通过对所述第二检测信号的1次幂至n次幂分别乘以增益而得到的Xn+1至X2n,从所述第一检测信号减去X0至X2n中至少一个以上的和,从而计算出校正后第一检测信号,
对于第二偏移校正值Y0、通过对所述第一检测信号的1次幂至n次幂分别乘以增益而得到的Y1至Yn、通过对所述第二检测信号的1次幂至n次幂分别乘以增益而得到的Yn+1至Y2n,从所述第二检测信号减去Y0至Y2n中至少一个以上的和,从而计算出校正后第二检测信号,
所述角度运算器通过根据所述校正后第一检测信号和所述校正后第二检测信号来计算出所述旋转机的角度信号,从而降低所述角度信号中所包含的1次至(n+1)次分量的误差。
2.如权利要求1所述的角度检测装置,其特征在于,
所述角度运算器通过根据所述校正后第一检测信号和所述校正后第二检测信号来计算出所述旋转机的角度信号,从而降低因所述第一检测信号及所述第二检测信号中所包含的0次至(n+2)次的误差而产生的所述角度信号中所包含的1次至(n+1)次分量的误差。
3.如权利要求1或2所述的角度检测装置,其特征在于,
所述校正信号运算器在将m设为0以上的整数时,通过对所述第一检测信号和所述第二检测信号进行了傅立叶级数展开时的2m次的系数进行加法运算及减法运算,来计算出所述第一偏移校正值X0。
4.如权利要求1或2所述的角度检测装置,其特征在于,
所述校正信号运算器在将m设为0以上的整数时,通过对所述第一检测信号和所述第二检测信号进行了傅立叶级数展开时的2m次的系数进行加法运算及减法运算,来计算出所述第二偏移校正值Y0。
5.如权利要求1或2所述的角度检测装置,其特征在于,
所述校正信号运算器在将kx设为1以上的奇数、将ky设为1以上的偶数、将m设为0以上的整数时,通过对所述第一检测信号和所述第二检测信号进行了傅立叶级数展开时的(2m+1)次的系数进行加法运算及减法运算,并将由此得到的值除以基波振幅的kx次幂,从而计算出与所述第一检测信号的kx次幂相乘的增益G1kx,或者通过对所述第一检测信号和所述第二检测信号进行了傅立叶级数展开时的2m次的系数进行加法运算及减法运算,并将由此得到的值除以基波振幅的ky次幂,从而计算出与所述第一检测信号的ky次幂相乘的增益G1ky。
6.如权利要求1或2所述的角度检测装置,其特征在于,
所述校正信号运算器在将kx设为1以上的奇数、将ky设为1以上的偶数、将m设为0以上的整数时,通过对所述第一检测信号和所述第二检测信号进行了傅立叶级数展开时的(2m+1)次的系数进行加法运算及减法运算,并将由此得到的值除以基波振幅的kx次幂,从而计算出与所述第二检测信号的kx次幂相乘的增益G2kx,或者通过对所述第一检测信号和所述第二检测信号进行了傅立叶级数展开时的2m次的系数进行加法运算及减法运算,并将由此得到的值除以基波振幅的ky次幂,从而计算出与所述第二检测信号的ky次幂相乘的增益G2ky。
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