[发明专利]用于集成电路中的最优修整校准的系统和方法

权利要求书

1.一种测试电路，其包括：

误差产生电路，其经配置以：

从待测试电路接收使用第一多个修整码产生的第一实际输出和第二实际输出；

基于所述第一实际输出与待校准电路的第一预期输出之间的差而产生第一误差信号；

基于所述第二实际输出与所述待校准电路的第二预期输出之间的差而产生第二误差信号；以及

基于所述第一误差信号、所述第一误差信号的第一权重值、所述第二误差信号和所述第二误差信号的第二权重值计算误差值；以及

单工电路，其耦接到所述误差产生电路，所述单工电路经配置以：

将所述第一多个修整码传输到所述待校准电路；

从所述误差产生电路接收所述误差值；

响应于确定所述误差值超过误差阈值，同时基于所述误差值而使用单工算法来产生第二多个修整码，其中所述第二多个修整码在修整码族中；以及

在同时产生所述第二多个修整码之后，将所述第二多个修整码传输到所述待校准电路。

2.根据权利要求1所述的测试电路，其中：

所述误差产生电路经进一步配置以：

从所述待校准电路接收第三实际输出；以及

基于所述第三实际输出与第三预期输出之间的差而产生第三误差信号；且

所述单工电路经进一步配置以从所述误差产生电路接收所述第三误差信号、基于所述第三误差信号而使用所述单工算法来产生第三多个修整码、并将所述第三多个修整码传输到所述待校准电路。

3.根据权利要求1所述的测试电路，其中：

所述误差产生电路经进一步配置以：

从所述待校准电路接收对应于所述待校准电路的多个组件的多个实际输出；

将权重因数分配给所述多个实际输出；以及

其中基于所述权重因数计算所述误差值。

4.根据权利要求1所述的测试电路，其中所述单工算法致使所述单工电路：

产生包括多个顶点的第一单工结构，所述多个顶点中的一个的多个坐标对应于所述第一多个修整码；

计算所述第一单工结构的质心；以及

变换所述多个顶点中的第一顶点以产生所述第二多个修整码。

5.根据权利要求4所述的测试电路，其中所述单工电路经配置以通过执行以下操作来变换所述第一顶点：

在所述第一单工结构的局部斜度方向上反射所述第一顶点以产生第二顶点；

通过比较所述第二顶点的斜度与所述第一单工结构的一侧的斜度来产生斜度比较值；

基于所述斜度比较值超出阈值，基于所述第二顶点而产生所述第二多个修整码；以及

基于所述斜度比较值小于所述阈值：与所述第一单工结构的所述质心线性相对地反射所述第一顶点以产生第三顶点；以及基于所述第三顶点而产生所述第二多个修整码。

6.根据权利要求4所述的测试电路，其中所述第一顶点对应于具有最差误差值的误差信号。

7.根据权利要求4所述的测试电路，其中所述单工电路经配置以通过执行以下操作来变换所述第一顶点：在所述第一单工结构的局部斜度方向上扩展所述第一顶点以产生第二顶点，并基于所述第二顶点而产生所述第二多个修整码。

8.根据权利要求4所述的测试电路，其中所述单工电路经配置以通过执行以下操作来变换所述第一顶点：使所述第一顶点朝向所述质心收缩以产生第二顶点，并基于所述第二顶点而产生所述第二多个修整码。

9.根据权利要求1所述的测试电路，其中所述单工电路进一步经配置以响应于确定所述第一误差信号不超过所述误差阈值而将所述第一多个修整码识别为所述待校准电路的经校准修整码。