[发明专利]有机EL器件的制造方法及有机EL器件有效

专利信息
申请号: 201680065207.4 申请日: 2016-11-04
公开(公告)号: CN108353480B 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 仓田知己;山下和贵;关口泰广 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: H01L51/50 分类号: H01L51/50;H05B33/10;H05B33/12;H05B33/22
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 刘文海
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 有机 el 器件 制造 方法
【说明书】:

一实施方式的有机EL器件(1)的制造方法包括:通过涂布法在带围堰的基板(10)所具有的设置于由围堰(13)规定的像素区域(2a)中的第一电极(12)上形成有机发光层(23)的工序;算出有机发光层的平坦度的工序;判定所述平坦度是否为期望的平坦度以上的工序;形成第二电极(30)的工序,将有机发光层的最小厚度设为d(nm),将(d+规定值)nm以下的有机发光层的面积设为A1,将像素区域的面积设为A2时,平坦度由(A1/A2)×100表示,在判定工序中平坦度为期望的值以上的情况下,实施形成第二电极的工序,在判定工序中平坦度小于期望的值的情况下,变更有机发光层的形成条件来形成有机发光层。

技术领域

本发明涉及有机EL器件的制造方法及有机EL器件。

背景技术

作为有机EL器件,已知有如专利文献1那样由围堰(隔壁)来规定多个像素的有机EL器件。在这样的有机EL器件中,在各像素内设置有机发光层,使各像素发光。

在先技术文献

专利文献

专利文献1:国际公开第2008/149499号

发明内容

发明要解决的课题

当有机EL器件所具有的像素内的有机发光层的厚度不均匀时,像素的亮度特性(例如亮度的均匀性等)劣化。为了使有机发光层的厚度均匀、也就是使有机发光层平坦,以往要求预先使成为有机发光层的基底的层平坦。然而,在该情况下,需要针对每层来评价层的平坦性,制造工序变得繁杂。另外,由于有机发光层的平坦性与亮度的关系不明,因此在直至在有机发光层上形成电极等而一度制造出有机EL器件之后试着使其发光为止的期间,无法判明是否能够得到期望的亮度特性。因此,在未能够得到期望的亮度特性的情况下,不仅需要再次形成有机发光层,还需要再次形成应在有机发光层上设置的电极,有机EL器件的生产率降低。

于是,本发明的目的在于,提供能够实现生产率的提高的有机EL器件的制造方法及有机EL器件。

用于解决课题的方案

即,本发明的一方案的有机EL器件的制造方法包括:通过涂布法在具备基板、围堰及第一电极的带围堰的基板的所述第一电极上形成有机发光层的工序,其中,所述围堰设置于所述基板且用于规定像素,所述第一电极在所述基板中设置于与所述像素对应的像素区域上;算出所述有机发光层的平坦度的工序;判定所述有机发光层的平坦度是否为期望的平坦度以上的工序;以及在所述有机发光层上形成第二电极的工序,在算出所述平坦度的工序中,将所述有机发光层的最小厚度设为d,将从所述基板的厚度方向观察时为(d+规定值)以下的所述有机发光层的面积设为A1,将所述像素区域的面积设为A2,将所述平坦度设为α时,通过下述式(1)算出所述平坦度,α=(A1/A2)×100···(1),在进行判定的所述工序中所述平坦度为期望的值以上的情况下,实施形成所述第二电极的工序,在进行判定的所述工序中所述平坦度小于期望的值的情况下,在形成所述有机发光层的工序中,变更所述有机发光层的形成条件来形成所述有机发光层,其中,d、(d+规定值)的单位为nm。

本申请发明人发现,在将形成于由围堰规定的像素内的有机发光层的平坦度如上述那样定义的情况下,在平坦度与从有机发光层产生的亮度状态之间存在一定的关系性。

在上述制造方法中,能够制造在像素内具有平坦度为期望的值以上的有机发光层的有机EL器件。在这样的有机EL器件中,根据本申请发明人所发现的见识,能够以实质上与所述期望的值对应的亮度状态从像素射出光。在该情况下,在有机EL器件的制造中,通过调整有机发光层的平坦度,能够制造可从像素以期望的亮度状态射出光的有机EL器件。因此,有机EL器件的生产率得以提高。

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