[发明专利]密封件篡改检测方法

权利要求书

1.一种用于确认防篡改密封件(1)的完整性的方法，包括：

-捕获所述密封件(1)的至少一个图像；

-对捕获的所述至少一个图像执行边缘追踪，以对作为预定破裂点(2)的在所述密封件(1)中提供的穿孔(3)进行光学检测；

-根据捕获的所述至少一个图像，确定描述所述穿孔(3)的物理结构的至少一个参数的参数值(β'，γ')，所述至少一个参数包括以下的一个或更多个：边缘长度、边缘之间的角度、所述预定破裂点(2)的尖端的锐度、所述穿孔(3)的长度、所述穿孔(3)的宽度、所述穿孔(3)相对于所述密封件(1)的边缘的偏移或嵌入在所述穿孔的结构中的代码；

-将确定的参数值(β'，γ')与预定的参考参数值(β，γ)进行比较；

-当所比较的参数值(β'，β，γ'，γ)匹配时，确认所述密封件(1)的完整性。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述密封件(1)被应用到物体上时，所述确定的参数值描述所述穿孔(3)相对于所述密封件(1)上或所述物体上的至少一个标记的位置。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述嵌入在所述穿孔的结构中的代码包括通过一系列的长的和短的切口嵌入所述穿孔的结构中的代码。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在捕获所述密封件(1)的图像之前，根据描述所述预定破裂点(2)的物理结构的参数的预定义值，在所述密封件(1)中产生所述预定破裂点(2)，其中，所述预定义值被存储为用于与描述预定破裂点(2)的物理结构的确定的参数值(β'，γ')进行比较的参考参数值(β，γ)。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过以下步骤记录针对每个密封件(1)的参考参数值(β，γ)：

-捕获所述密封件(1)的至少一个参考图像；

-根据捕获的所述至少一个参考图像，确定描述所述密封件(1)的物理结构的至少一个参数的参考参数值(β，γ)；

-存储确定的参考参数值(β，γ)。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，参考参数值(β，γ)与所述密封件(1)或密封物体的标识相关联，并被存储在中央数据库(40)中，在确认所述密封件(1)的完整性之前，基于所述标识从该中央数据库(40)取出所述参考参数值(β，γ)。

7.一种用于确认防篡改密封件(1)的完整性的系统(48)，包括图像捕获装置(50)和连接到所述图像捕获装置(50)的计算装置(51)，其中，所述计算装置(51)被配置为接收来自所述图像捕获装置(50)的至少一个捕获的图像，对所述至少一个捕获的图像执行边缘追踪，以对作为预定破裂点(2)的在所述密封件(1)中提供的穿孔(3)进行光学检测，并且根据所述至少一个捕获的图像确定描述所述密封件(1)的穿孔(3)的物理结构的至少一个参数的参数值(β'，γ')，其中，所述至少一个参数包括以下的一个或更多个：边缘长度、边缘之间的角度、预定破裂点(2)的尖端的锐度、所述穿孔(3)的长度、所述穿孔(3)的宽度、所述穿孔(3)相对于所述密封件(1)的边缘或所述密封件(1)上的标记的偏移或者嵌入在所述穿孔的结构中的代码，所述系统(48)还包括验证装置(52)，所述验证装置(52)被配置为接收确定的所述至少一个参数值(β'，γ')并且将所述确定的参数值(β'，γ')与预定的参考参数值(β，γ)进行比较，并且当所比较的参数值(β'，β，γ'，γ)匹配时确认所述密封件(1)的完整性。

8.根据权利要求7所述的系统(48)，其特征在于，所述计算装置(51)被配置为当所述密封件(1)被应用到物体时，根据所述至少一个捕获的图像，确定所述预定破裂点(2)相对于所述密封件(1)上或所述物体上的至少一个标记的位置。

9.根据权利要求7所述的系统(48)，其特征在于，所述嵌入在所述穿孔的结构中的代码包括通过一系列长的和短的切口嵌入在所述穿孔的结构中的代码。