[发明专利]相移量测定装置有效
申请号: | 201680068726.6 | 申请日: | 2016-11-22 |
公开(公告)号: | CN108603833B | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 米泽良 | 申请(专利权)人: | 株式会社V技术 |
主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45;G01J9/02;G01M11/00;G01N21/27;G03F1/84 |
代理公司: | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人: | 陈琳琳;杨青 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 相移 测定 装置 | ||
1.一种相移量测定装置,测定相移掩模的相移量,其特征在于,
在从光源至拍摄双重干涉图像的摄像装置的单一光路上,从上游侧起具备:
衍射光栅,其衍射直线偏振光而生成多个衍射光;
样品台,其保持在透明基板上形成有图案部和移相器部的所述相移掩模的周缘部,并在中央部形成开口部;
双楔棱镜,其生成所述相移掩模的图案的横向偏移双重图像,并且,使通过了所述相移掩模的所述图案部及所述移相器部的所述衍射光干涉,以遍及光射出端面的整个面形成均匀的干涉图像的方式相对于光轴向所述双重图像的生成方向倾斜地配置;
移动单元,其使所述双楔棱镜在所述双重图像的生成方向上,与所述双楔棱镜的光入射端面或光射出端面平行地滑动移动。
2.如权利要求1所述的相移量测定装置,其特征在于,
在所述衍射光栅的光行进方向上游侧及所述双楔棱镜的光行进方向下游侧分别配置有λ/4板。
3.如权利要求1或2所述的相移量测定装置,其特征在于,
在所述衍射光栅的光行进方向上游侧配置有使g线、h线及i线中的至少任一个光线透射的带通滤波器。
4.如权利要求1或2所述的相移量测定装置,其特征在于,
具备使所述衍射光栅和所述双楔棱镜一体地绕光轴旋转的旋转单元。
5.如权利要求1或2所述的相移量测定装置,其特征在于,
所述双楔棱镜为Nomarski棱镜。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社V技术,未经株式会社V技术许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201680068726.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。