[发明专利]确定X射线系统的X射线管的状况

说明书

本发明涉及用于确定X射线系统(36)的X射线管(10)的状况的设备(34)和方法(70)。由于X射线管的老化和/或磨损，由X射线管提供的X射线辐射(30)的谱会随着X射线管的操作时间而改变。本发明因此建议评估利用X射线系统的X射线探测器布置(32)探测的谱不同的值。通过多个谱不同的参考值(44)表示X射线管的参考情况的参考数据集和通过探测的X射线辐射的多个谱不同的工作值(46)表示的X射线管的老化情况的工作数据集用来确定影响由X射线管的阳极(16)发射的源X射线辐射(26)的过滤材料的等效过滤函数。因此，过滤函数提供关于正在用于过滤的材料和/或其长度的信息，这可以为确定X射线管的情况并且因此状况提供基础。

技术领域

本发明涉及用于确定X射线系统的X射线管的状况的设备和方法、包括所述设备的X射线成像系统、计算机程序单元和计算机可读介质。

背景技术

X射线系统包括用于提供X射线辐射的X射线管。X射线辐射能够穿过要被成像的对象。穿过对象的X射线辐射之后能够冲击X射线探测器，以便生成对象的图像。X射线系统可以用于手术室环境中或用于放射学诊断。然而，X射线系统也可以用于其他目的。

X射线管可能在使用期间经受磨损，这可以导致对由X射线管提供的X射线辐射的影响。随着X射线管的磨损增加，X射线管的失效概率也会增加。X射线管的失效是高度不期望的，特别地如果失效在使用X射线管用于利用对应的X射线系统执行X射线成像时发生。因此，将会希望提供可以指示X射线管的情况的X射线管的状况。

文件DE10338693B3涉及一种用于估计X射线源的寿命的方法。由X射线源提供的X射线辐射与X射线阈值进行比较，并且其结果用来确定X射线源的剩余寿命。

文件US2013/0083901A1公开了用于确定X射线阳极的磨损的方法和设备。

文件US2014/0177810A1公开了用于估计并补偿X射线管中的阳极目标过滤的系统和方法。

文件WO2015/032664A1公开了一种X射线管外壳组件，所述X射线管外壳组件允许对由于改变旋转阳极的焦斑区域的表面的电子束的作用的随着时间的退化的修正。

发明内容

会存在对提供关于X射线系统的X射线管的情况的增强预测的需要。

本发明的目的通过独立权利要求的主题来解决，其中，进一步的实施例被包含在从属权利要求中。应当注意，本发明的以下描述的方面也适于设备、系统、方法、计算机程序单元和计算机可读介质。

根据本发明的第一方面，提供了一种用于确定X射线系统的X射线管的状况的设备，包括输入接口、输出接口和处理单元。所述输入接口被配置为接收参考数据集，所述参考数据集表示在X射线系统的预定控制方案下的X射线管的探测的X射线辐射的多个谱不同的参考值。所述输入接口被配置为接收工作数据集，所述工作数据集表示在所述X射线系统的相同的预定控制方案下的所述X射线管的探测的X射线辐射的多个谱不同的工作值，其中，由对所述X射线管的使用引起的X射线过滤被应用在所述X射线管的X射线辐射路径处。所述处理单元被配置为基于所述参考数据集和所述工作数据集确定指示所述X射线过滤的所述X射线管的所述X射线辐射的过滤函数。所述处理单元被配置为基于所述过滤函数确定所述X射线管的状况。所述输出接口被配置为提供所述X射线管的所述状况用于另外的目的。所述处理单元被配置为基于所述过滤函数确定吸收谱；并且其中，所述处理单元被配置为基于所述吸收谱确定所述X射线管的所述状况。

在一范例中，谱不同的值可以指示或表示X射线辐射的不同能量子谱处的能量。例如，一组中的一个值可以表示例如80kVp的第一X射线管电压处的探测的X射线辐射，其中，相同组中的另外的值可以表示例如140kVp的第二X射线管电压处的探测的X射线辐射。

在一范例中，控制方案可以涉及针对X射线系统(特别地针对X射线管)的设置，和/或涉及针对X射线系统的操作计划。