[发明专利]放射线检测器在审
申请号: | 201680077174.5 | 申请日: | 2016-12-14 |
公开(公告)号: | CN108476294A | 公开(公告)日: | 2018-08-31 |
发明(设计)人: | 鬼桥浩志 | 申请(专利权)人: | 东芝电子管器件株式会社 |
主分类号: | H04N5/32 | 分类号: | H04N5/32;G01T7/00;H01L27/144;H01L27/146;H01L29/786;H04N5/353 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 张鑫 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信号检测电路 控制线 薄膜晶体管 电连接 基板 放射线检测器 数据线电连接 光电转换部 方向延伸 基准电位 截止状态 判定部 数据线 光电转换元件 数据线检测 导通状态 开始时刻 控制电路 放射线 检测 入射 相交 判定 | ||
1.一种放射线检测器,其特征在于,包括:
基板;
多条控制线,该多条控制线设置在所述基板上,沿第一方向延伸;
多条数据线,该多条数据线设置在所述基板上,沿着与所述第一方向相交的第二方向延伸;
光电转换部,该光电转换部设置于由所述多条控制线和所述多条数据线划分成的多个区域中的每一个,并具有与对应的所述控制线以及对应的所述数据线电连接的薄膜晶体管和光电转换元件;
控制电路,该控制电路与所述多条控制线电连接并对多个所述薄膜晶体管的导通状态和截止状态进行切换;
与所述多条数据线电连接的信号检测电路;
与所述信号检测电路电连接的基准电位部;以及
与所述信号检测电路电连接的判定部,
所述信号检测电路在所述薄膜晶体管处于截止状态时,经由所述数据线检测第一电流积分值,并且对来自所述基准电位部的第二电流积分值进行检测,
所述判定部基于检测到的所述第一电流积分值与所述第二电流积分值之差来判定放射线的入射开始时刻。
2.如权利要求1所述的放射线检测器,其特征在于,
所述基准电位部具有与所述控制线和所述数据线电连接的所述薄膜晶体管。
3.如权利要求1所述的放射线检测器,其特征在于,
所述基准电位部具有排列成矩阵状的多个所述光电转换部中,在多个所述控制线排列的方向上并排设置的一列多个所述光电转换部。
4.如权利要求2或3所述的放射线检测器,其特征在于,
所述基准电位部还具有覆盖设置于所述基准电位部的所述薄膜晶体管、或者设置于所述基准电位部的多个所述光电转换部的屏蔽构件。
5.如权利要求1所述的放射线检测器,其特征在于,
所述基准电位部与电源或悬浮电位进行电连接。
6.如权利要求1至5中任一项所述的放射线检测器,其特征在于,
所述信号检测电路对所述薄膜晶体管处于导通状态时的采样宽度和所述薄膜晶体管处于截止状态时的采样宽度进行变更。
7.如权利要求6所述的放射线检测器,其特征在于,
所述薄膜晶体管为截止状态时的采样宽度比所述薄膜晶体管为导通状态时的采样宽度更长。
8.如权利要求1至7中任一项所述的放射线检测器,其特征在于,
在由所述判定部判定为所述放射线开始入射的情况下,
所述控制电路在经过一定期间后将多个所述薄膜晶体管设为导通状态。
9.如权利要求1至7中任一项所述的放射线检测器,其特征在于,
在由所述判定部判定为所述放射线未开始入射的情况下,
所述控制电路将多个所述薄膜晶体管维持在截止状态,
所述信号检测电路对所述第一电流积分值和所述第二电流积分值进行再次检测,
所述判定部基于所述第一电流积分值与所述第二电流积分值之差再次判定放射线的入射开始时刻。
10.如权利要求9所述的放射线检测器,其特征在于,
所述判定部对所述判定的次数和经过时间中的至少一个进行检测,在检测到的所述判定的次数和所述经过时间中的至少一个超过规定值时,
对与所述判定的次数、所述经过时间、所述第一电流积分值以及所述第二电流积分值相关的数据进行初始化。
11.如权利要求1至10中任一项所述的放射线检测器,其特征在于,
所述判定部对所述多条数据线的每一条的所述第一电流积分值进行平均,基于所述平均后的所述第一电流积分值与所述第二电流积分值之差判定所述放射线的入射开始时刻。
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