[发明专利]用于管理轮胎检查设备的方法和相关的轮胎检查设备有效

专利信息
申请号: 201680078688.2 申请日: 2016-12-21
公开(公告)号: CN108472894B 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: V·波法;F·雷戈利;V·巴拉迪尼;S·蒙蒂;L·泰尔西 申请(专利权)人: 倍耐力轮胎股份公司
主分类号: B29D30/00 分类号: B29D30/00;G01M17/02
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 林振波
地址: 意大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 管理 轮胎 检查 设备 方法 相关
【权利要求书】:

1.一种用于管理轮胎检查设备的方法,所述设备(1)包括:

用于轮胎检查的光学结构(430),所述光学结构(430)包括至少一个第一光学工具(43a);

适于移动所述第一光学工具(43a)的第一构件(40a),

其中,所述轮胎检查包括在第一持续时间内对第一轮胎执行的至少第一检查序列,以及随后在第二持续时间内对第二轮胎执行的第二检查序列,

其中,所述方法包括:

通过所述光学结构(430)对所述第一轮胎执行第一检查(C1);

通过所述光学结构(430)对所述第一轮胎或所述第二轮胎执行第二检查(C2);

其中,所述第一检查(C1)和所述第二检查(C2)由时间间隔(T1)分开,所述时间间隔短于或等于所述第一持续时间和所述第二持续时间之和;

其中,所述第一光学工具(43a)在所述时间间隔(T1)期间不用于轮胎检查;

其中,所述方法包括在所述时间间隔(T1)期间验证所述第一光学工具(43a)。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,验证所述第一光学工具(43a)包括:

将所述第一光学工具(43a)相对于参考元件(300)定位在给定位置;

通过所述第一光学工具(43a)检测代表所述参考元件(300)的至少一部分的光辐射(W);

在所检测到的光辐射(W)和参考数据(Ref)之间进行比较;

根据所述比较产生通知信号(NS)。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述参考元件(300)包括屏幕(300a),其适于显示用于执行所述验证的预定形状。

4.根据权利要求2或3所述的方法,其中,将所述第一光学工具(43a)定位在所述给定位置包括驱动所述第一构件(40a),以使得所述第一光学工具(43a)将被放置在所述给定位置。

5.根据权利要求2或3所述的方法,其包括在执行所述第一检查(C1)之前,执行用于学习所述参考元件(300)的位置的学习操作(SL)。

6.根据权利要求5所述的方法,其中,为了执行所述学习操作,规定:手动驱动所述第一构件(40a)。

7.根据权利要求5所述的方法,其中,将所述第一光学工具(43a)定位在所述给定位置包括驱动所述第一构件(40a),以使得所述第一光学工具(43a)将被放置在所述给定位置,其中,所述学习操作(SL)包括:

驱动所述第一构件(40a)以将其置于一位置,以使得所述第一光学工具(43a)将相对于所述参考元件(300)被放置在所述给定位置;

将指示所述第一构件(40a)所占据的位置的位置数据(PD)存储到与所述第一构件(40a)相关联的存储介质(610)中。

8.根据权利要求7所述的方法,其中,为了验证所述第一光学工具(43a),所述第一构件(40a)被驱动到由所述位置数据(PD)限定的位置。

9.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一光学工具(43a)包括:

至少一个发射器装置(220),其适于发射光辐射;

至少一个检测器装置(230),其适于检测所述光辐射;

支撑件(210),所述发射器装置(220)和所述检测器装置(230)安装在所述支撑件上。

10.根据权利要求1所述的方法,其中,所述光学结构(430)包括第二光学工具(43b),

其中,所述第二光学工具(43b)在所述时间间隔(T1)期间不用于轮胎检查;

所述方法包括在所述时间间隔(T1)期间验证所述第二光学工具(43b)。

11.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一持续时间介于15秒和120秒之间。

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