[发明专利]元件判定装置及元件判定方法有效

专利信息
申请号: 201680081720.2 申请日: 2016-02-18
公开(公告)号: CN108702866B 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 石川信幸;田中克典 申请(专利权)人: 株式会社富士
主分类号: H05K13/04 分类号: H05K13/04;H05K13/08
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 穆德骏;安翔
地址: 日本爱知*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 元件 判定 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种元件判定装置,判定要载置于电路基板的电子元件是否适合,

所述电子元件具有元件主体、多个电极部及基准部,所述基准部由与所述多个电极部不同的构件形成且在将所述电子元件载置于所述电路基板上时与该电路基板的上表面接触,

所述元件判定装置具备:

测定装置,对在所述基准部上设定的多个基准点的位置及在所述多个电极部上分别设定的测定点的位置进行测定;

平面计算部,基于所述多个基准点的位置来计算基准平面,所述基准平面表示在所述电子元件被载置于所述电路基板上的情况下所述电路基板的所述上表面相对于所述元件主体的位置;及

是否适合判定部,基于所述基准平面与所述多个测定点的距离来判定所述电子元件是否适合。

2.根据权利要求1所述的元件判定装置,其中,

在所述电路基板的预定位置设有定位孔及向所述定位孔插入的销部之中的一方,

所述电子元件还具有所述定位孔及所述销部之中的另一方,

所述基准部具有限制面,在所述销部向所述定位孔插入了一定量的情况下,该限制面与所述电路基板的上表面接触,来限制所述销部相对于所述定位孔的相对移动,

所述测定装置测定所述多个基准点中的在所述限制面上设定的至少一个基准点的位置。

3.根据权利要求2所述的元件判定装置,其中,

在所述电路基板上设有沿厚度方向贯通的卡定孔,

所述电子元件还具有卡定爪,该卡定爪插通于所述卡定孔并卡定于所述电路基板的下表面,从而防止被插入于所述定位孔的所述销部松脱。

4.根据权利要求2所述的元件判定装置,其中,

在所述电路基板的所述预定位置设有所述定位孔,

所述电子元件具有所述销部,

所述测定装置还测定所述销部在所述电子元件中的位置,

所述是否适合判定部基于所述多个测定点相对于所述销部的位置的所述基准平面上的相对位置来判定所述电子元件是否适合。

5.根据权利要求3所述的元件判定装置,其中,

在所述电路基板的所述预定位置设有所述定位孔,

所述电子元件具有所述销部,

所述测定装置还测定所述销部在所述电子元件中的位置,

所述是否适合判定部基于所述多个测定点相对于所述销部的位置的所述基准平面上的相对位置来判定所述电子元件是否适合。

6.根据权利要求1~5中任一项所述的元件判定装置,其中,

所述多个电极部分别沿水平方向并列地排列,

所述基准部在所述电子元件的俯视视角下与所述多个电极部同列地并列配置。

7.根据权利要求6所述的元件判定装置,其中,

所述基准部配置在所述多个电极部中的相邻的两个电极部之间。

8.根据权利要求1~5中任一项所述的元件判定装置,其中,

所述基准部是在与所述元件主体分离的位置将所述多个电极部彼此连结的连结构件的一部分。

9.根据权利要求6所述的元件判定装置,其中,

所述基准部是在与所述元件主体分离的位置将所述多个电极部彼此连结的连结构件的一部分。

10.根据权利要求7所述的元件判定装置,其中,

所述基准部是在与所述元件主体分离的位置将所述多个电极部彼此连结的连结构件的一部分。

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