[发明专利]元件判定装置及元件判定方法

说明书

本发明目的在于提供一种能够对应于电子元件的形态来提高电子判定元件是否合格的精度的元件判定装置及元件判定方法。作为元件判定装置判定是否适合的对象的电子元件具有基准部，该基准部由与多个电极部不同的构件形成且在将电子元件载置于电路基板上时与该电路基板的上表面接触。元件判定装置具备：测定装置，对在基准部上设定的多个基准点的位置及在多个电极部分别设定的测定点的位置进行测定；平面计算部，基于多个基准点的位置来计算表示在电子元件被载置于电路基板上的情况下电路基板的上表面相对于元件主体的位置的基准平面；及是否适合判定部，基于基准平面与多个测定点的距离来判定电子元件是否适合。

技术领域

本发明涉及元件判定装置及元件判定方法。

背景技术

元件检査装置以要装配于电路基板的电子元件为对象，判定该电子元件中的电极部的状态等是否适合于电子元件的用途。例如，专利文献1中公开了进行多个电极部(引线等)的平坦度检査等的结构。通过这样判定电子元件是否适合，来防止电极部变形这样的不合格的电子元件向电路基板上装配。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2001-155160号公报

发明内容

发明要解决的课题

然而，电子元件中，存在除了电极部以外还具有与电路基板的上表面接触的接触部的类别。上述的接触部被用于例如向电路基板上定位电子元件、或对载置于电路基板的电子元件的姿势维持。具有这样的接触部的电子元件中可能包括即使电极部的平坦度是正常的、但由于电极部与接触部的位置关系因而也不适合于向电路基板上装配的电子元件。

本发明鉴于这样的情况而作出，目的在于提供一种能够对应于电子元件的形态来提高判定电子元件是否合格的精度的元件判定装置及元件判定方法。

用于解决课题的方案

第一方案的元件判定装置判定要载置于电路基板的电子元件是否适合。电子元件具有元件主体、多个电极部及由与多个电极部不同的构件形成且在将电子元件载置于电路基板上时与该电路基板的上表面接触的基准部。元件判定装置具备：测定装置，对在基准部上设定的多个基准点的位置及在多个电极部上分别设定的测定点的位置进行测定；平面计算部，基于多个基准点的位置来计算表示在电子元件被载置于电路基板上的情况下电路基板的上表面相对于元件主体的位置的基准平面；及是否适合判定部，基于基准平面与多个测定点的距离来判定电子元件是否适合。

第六方案的元件判定装置判定要载置于电路基板的电子元件是否适合。电子元件具有元件主体、沿水平方向并列地排列的多个电极部及基准部，所述基准部由与多个电极部不同的构件形成且在电子元件的俯视视角下与多个电极部同列地并列配置。元件判定装置具备：测定装置，对在基准部上设定的多个基准点的位置及在多个电极部上分别设定的测定点的位置进行测定；平面计算部，基于多个基准点的位置来计算表示在电子元件被载置于电路基板上的情况下电路基板的上表面相对于元件主体的位置的基准平面；及是否适合判定部，基于基准平面与多个测定点的距离来判定电子元件是否适合。

第九方案的元件判定方法判定要载置于电路基板的电子元件是否适合。电子元件具有元件主体、多个电极部及基准部，所述基准部由与多个电极部不同的构件形成且在将电子元件载置于电路基板上时与该电路基板的上表面接触。元件判定方法包括：测定工序，对在基准部上设定的多个基准点的位置及在多个电极部上分别设定的测定点的位置进行测定；平面计算工序，基于多个基准点的位置来计算表示在电子元件被载置于电路基板上的情况下电路基板的上表面相对于元件主体的位置的基准平面；及是否适合判定工序，基于基准平面与多个测定点的距离来判定电子元件是否适合。