[发明专利]图像处理装置、图像处理方法和存储介质

权利要求书

1.一种图像处理装置，对摄像元件生成的图像数据进行处理，其中，摄像元件包括多个像素和多个读取电路，所述多个像素呈二维状配置，能够从外部接收光并生成与受光量对应的信号，所述多个读取电路读取所述信号作为像素值，所述图像处理装置对所述图像数据中包含的因与低饱和像素不同的缺陷像素导致的噪声进行处理，其特征在于，包括：

获取部，其获取所述摄像元件生成的所述图像数据和所述多个像素各自的饱和水平；和

噪声处理部，其基于所述获取部获取的所述饱和水平，对所述噪声进行处理，

所述噪声处理部包括缺陷像素检测部，所述缺陷像素检测部基于所述多个像素中的关注像素的像素值和该关注像素的所述饱和水平，并基于所述关注像素周围的参照像素的像素值与所述参照像素的所述饱和水平的比较，检测所述缺陷像素在所述摄像元件中的位置或者所述缺陷像素的水平，

其中，所述缺陷像素检测部在所述参照像素中包括像素值为所述参照像素的所述饱和水平以上的饱和像素的情况下，使用除所述饱和像素外的所述参照像素，来检测所述缺陷像素在所述摄像元件中的位置或者所述缺陷像素的水平，或者，相比其他的所述参照像素降低所述饱和像素的权重，来检测所述缺陷像素在所述摄像元件中的位置或者所述缺陷像素的水平。

2.如权利要求1所述的图像处理装置，其特征在于：

所述缺陷像素检测部基于所述关注像素的像素值与该关注像素的所述饱和水平的比较，检测所述缺陷像素在所述摄像元件中的位置或者所述缺陷像素的水平。

3.如权利要求2所述的图像处理装置，其特征在于：

所述缺陷像素检测部在所述关注像素的像素值比该关注像素的所述饱和水平低的情况下，检测所述缺陷像素在所述摄像元件中的位置或者所述缺陷像素的水平。

4.如权利要求2或3所述的图像处理装置，其特征在于：

所述缺陷像素检测部在所述关注像素的像素值为该关注像素的所述饱和水平以上的情况下，使用前一帧的检测结果作为检测结果。

5.如权利要求1所述的图像处理装置，其特征在于：

所述缺陷像素检测部在所述参照像素的像素值为所述参照像素的所述饱和水平以上的情况下，或者像素值为所述饱和水平以上的所述参照像素的数量为规定阈值以上的情况下，使用前一帧的检测结果作为检测结果。

6.如权利要求1所述的图像处理装置，其特征在于：

所述噪声处理部包括缺陷像素校正部，所述缺陷像素校正部基于所述多个像素各自的像素值与所述饱和水平的比较，对所述缺陷像素进行校正。

7.如权利要求6所述的图像处理装置，其特征在于：

所述缺陷像素校正部在所述关注像素为所述缺陷像素，且所述关注像素周围的参照像素中包括像素值为所述饱和水平以上的饱和像素的情况下，使用除所述饱和像素外的所述参照像素对所述缺陷像素进行校正。

8.如权利要求6所述的图像处理装置，其特征在于：

所述缺陷像素校正部在所述关注像素为所述缺陷像素，且所述关注像素周围的参照像素中包括像素值为所述饱和水平以上的饱和像素的情况下，相比其他的所述参照像素降低所述饱和像素的权重，来对所述缺陷像素进行校正。

9.如权利要求1所述的图像处理装置，其特征在于：

所述获取部获取将所述多个像素各自的位置信息与所述饱和水平关联的饱和像素信息。

10.如权利要求1所述的图像处理装置，其特征在于：

所述获取部获取饱和水平映射图，在所述饱和水平映射图中，针对所述图像数据中的所述多个像素分别设定了所述饱和水平。

11.如权利要求1所述的图像处理装置，其特征在于：

所述噪声处理部包括低饱和像素校正部，所述低饱和像素校正部基于所述多个像素各自的像素值与所述饱和水平的比较，对该饱和水平比其他像素低的低饱和像素进行校正。