[发明专利]图像处理装置、图像处理方法和存储介质

说明书

本发明提供一种即使在关注像素的周围存在低饱和像素的情况下，也能够准确地处理缺陷像素的图像处理装置、图像处理方法和存储介质。图像处理装置(30)包括获取摄像元件(105)生成的图像数据和多个像素各自的饱和水平的第三外部I/F部(31)，和基于第三外部I/F部(31)获取的饱和水平对图像数据中包含的因缺陷像素导致的噪声进行处理的噪声处理部(32)。

技术领域

本发明涉及能够处理因摄像元件中产生的缺陷像素造成的噪声的图像处理装置、图像处理方法和存储介质。

背景技术

通常，在摄像装置使用的摄像元件中，在因制造时的偏差和劣化等导致构成像素的电路产生了缺陷的情况下，从该像素读取的像素值会比周围的像素(下文称“周围像素”)的像素值高或低。作为对这种产生了缺陷的像素(下文称“缺陷像素”)的像素值进行校正的技术，已知一种技术(参照专利文献1)，将关注像素的周围像素的像素值作为集合来计算像素值的方差，并基于该方差将关注像素的像素值与周围像素的像素值的差值归一化来计算显著度——其表示关注像素的像素值在周围像素中的显著程度，由此对缺陷像素的像素值进行校正。该技术中，对关注像素的像素值的显著度和与关注像素位于相同位置的不同滤光镜处的像素值的显著度进行比较，来进行是否为缺陷像素的判断，在关注像素是缺陷像素的情况下，使用周围像素的像素值对关注像素的像素值进行校正。

摄像元件读取与基于曝光量而产生的电荷对应的像素值。由于摄像元件的制造误差等，摄像元件各像素中的电荷的最大储存量(饱和电荷量)会随像素的不同而存在偏差。例如，在拍摄没有对比度的、高亮度的平坦被摄体的情况下，理想的是，读取到的像素值一致地发生饱和、全部像素呈现出相同的像素值，然而却存在这样的问题：由于各像素的偏差，饱和电荷量低的像素会在比其他像素低的像素值下发生饱和，像素值无法得到相同的值。已知一种技术(参照专利文献2)，对于这样的在比其他像素的像素值低的像素值下发生饱和的像素(下文称“低饱和像素”)，通过将其像素值置换为周围像素的像素值的平均值，来对关注像素的像素值进行校正。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第4453332号公报

专利文献2：国际公开第2013/154105号

发明内容

发明要解决的技术问题

然而，在上述专利文献1中，在使用关注像素的像素值和周围像素的像素值进行缺陷像素的检测和校正的情况下，在缺陷像素的周围存在低饱和像素时，会产生缺陷像素的检测精度降低、缺陷像素的校正精度降低这一问题。

尤其是，在要观察的被摄体和观察条件受到限制的设备——例如医疗用内窥镜设备中，被设计成在最重要的条件下达到最好的画质。例如在医疗用内窥镜中，以在用户即医师最容易进行诊断的曝光条件下，噪声较小、观察对象即活体等受检体最容易被观察的方式，决定该曝光条件下平均储存的电荷量。其结果是，在不重要的条件(例如饱和的条件或黑暗的条件——在这样的条件下使用医疗用内窥镜的可能性非常低)下，上述问题将变得更加显著。

本发明是鉴于上述情况而作出的，其目的在于提供一种即使在关注像素的周围存在低饱和像素的情况下也能够准确地处理缺陷像素的图像处理装置、图像处理方法和存储介质。

解决问题的技术手段

为解决上述问题，实现其目的，本发明的图像处理装置对摄像元件生成的图像数据进行处理，其中，摄像元件包括多个像素和多个读取电路，所述多个像素呈二维状配置，能够从外部接收光并生成与受光量对应的信号，所述多个读取电路读取所述信号作为像素值，所述图像处理装置对所述图像数据中包含的因与低饱和像素不同的缺陷像素导致的噪声进行处理，其特征在于，包括：获取部，其获取所述摄像元件生成的所述图像数据和所述多个像素各自的饱和水平；和噪声处理部，其基于所述获取部获取的所述饱和水平，对所述噪声进行处理。