[发明专利]旋转角度检测装置及旋转角度检测方法

说明书

旋转角度检测装置包括：转子，该转子由磁性体构成；定子，该定子具有1个偏置磁场生成部与多个磁检测元件；以及旋转角度运算处理部，该旋转角度运算处理部根据所述磁检测元件的检测信号来求出所述转子的旋转角度，所述转子的定子相向面具有相对于机械角360度变化x(x为1以上的整数)周期的凹凸部，所述凹凸部具有可由所述磁检测元件得到大致正弦波的呈曲线形变化的形状，所述定子的所述磁检测元件以与所述转子的所述定子相向面隔开间隙相对的方式沿周向等间隔地在所述凹凸部的1周期中设有a个(a为2以上的整数)，所述偏置磁场生成部以与a个所述磁检测元件相重叠的方式在所述凹凸部的1周期中在周向上延伸。

技术领域

本发明涉及旋转角度检测装置，尤其涉及利用了磁强度的变化的旋转角度检测装置及旋转角度检测方法。

背景技术

例如，下述专利文献1中公开了一种旋转检测装置，其包括：转子，该转子设置于由具有轴承的外壳所支承并旋转的转轴，该转子被设为该旋转的检测对象；半导体芯片，该半导体芯片具有在该转子的附近对磁场的变化进行感应的磁感应元件；以及偏置磁体，该偏置磁体向所述磁感应元件提供偏置磁场，旋转检测装置利用所述磁感应元件感应当所述转子旋转时与所述偏置磁场联动地产生的磁场的变化，并基于此来检测所述转子的旋转模式，所述轴承及所述半导体芯片与所述外壳形成为一体。此外，下述专利文献2、3中也公开了利用了磁强度的变化的旋转检测装置、旋转检测传感器。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2006－132978号公报

专利文献2：日本专利特开平11－51695号公报

专利文献3：日本专利特开平8－219709号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

例如，下述专利文献1的旋转检测装置中，沿转子的外周面形成矩形的凹凸，并利用磁感应元件来感应因这些凹凸而与偏置磁场联动地产生的磁场的变化，由此来进行旋转检测。

本发明的目的在于提供旋转角度检测装置等，在测定对象即转子侧设置像正弦波那样呈曲线形平滑且周期性变化的凹凸部，并利用多个磁检测元件检测因这些平滑且周期性变化的凹凸而与偏置磁场联动地产生的磁场变化，由此来进行高精度的旋转角度检测。

解决技术问题所采用的技术方案

本发明的旋转角度检测装置等包括：转子，该转子由磁性体构成；定子，该定子具有1个偏置磁场生成部与多个磁检测元件；以及旋转角度运算处理部，该旋转角度运算处理部根据由所述磁检测元件得到的检测信号来求出所述转子的旋转角度，所述转子的定子相向面具有相对于机械角360度变化x周期的凹凸部，这里x为1以上的整数，所述凹凸部具有可由所述磁检测元件得到大致正弦波的呈曲线形变化的形状，所述定子的所述磁检测元件以与所述转子的所述定子相向面隔开间隙相对的方式沿周向等间隔地在所述凹凸部的1周期中设有a个，所述偏置磁场生成部以与a个所述磁检测元件相重叠的方式在所述凹凸部的1周期中在周向上延伸，这里a为2以上的整数。

发明效果

本发明能提供旋转角度检测装置等，利用多个磁检测元件检测因设置在转子侧的像正弦波那样呈曲线形平滑且周期性变化的凹凸部而与偏置磁场联动地产生的磁场变化，由此来进行高精度的旋转角度检测。

附图说明

图1是本发明一个实施方式所涉及的旋转角度检测装置的检测部的示意性剖视图。

图2是对图1的检测部的主要部分进行放大而得到的放大剖视图。

图3是本发明一个实施方式所涉及的旋转角度检测装置的旋转角度运算部的结构图。