[发明专利]LCD驱动芯片的测试系统及方法有效
申请号: | 201710004349.6 | 申请日: | 2017-01-04 |
公开(公告)号: | CN106707140B | 公开(公告)日: | 2019-10-22 |
发明(设计)人: | 王海群;周彦杰;赵启山 | 申请(专利权)人: | 上海东软载波微电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 潘彦君;吴敏 |
地址: | 200235 上海市徐汇区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | lcd 驱动 芯片 测试 系统 方法 | ||
1.一种LCD驱动芯片的测试系统,其特征在于,包括:芯片承载台以及测试机,其中:
所述芯片承载台,与所述测试机耦接,适于承载所测LCD驱动芯片;
所述测试机,与所述所测LCD驱动芯片耦接,适于向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令,以设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式;在所述实际工作模式下,接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形,依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值,将每帧波形在第j个状态下的电压值Vj与预设的第一电压阈值Vi1和第二电压阈值Vi2进行比较,当Vj>Vi1时,将所述第j个状态对应的比较结果设定为第一状态码;当Vj<Vi2时,将所述第j个状态对应的比较结果设定为第二状态码;其中,Vi>Vi1>Vi2>Vi+1,1≤i≤n-1,Vi为第i个档位对应的电压值,Vi+1为第i+1个档位对应的电压值,n为根据预设的理论波形电压值所划分出的档位数目,且i、n均为整数;每帧波形在每一个状态下对应的所述第一状态码以及所述第二状态码的集合为所述每帧波形的比较结果;将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下所述每帧波形的预设值进行对比,获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果。
2.如权利要求1所述的LCD驱动芯片的测试系统,其特征在于,所述测试机,还适于接收所述所测LCD驱动芯片输出的偏置电压,并将所述偏置电压与所述实际工作模式下的预设偏置电压门限值进行比较,获取偏置电压的比较结果;所述测试机输出测试结果,所述测试结果包括:所述所有帧波形的比较结果,以及所述偏置电压的比较结果。
3.如权利要求2所述的LCD驱动芯片的测试系统,其特征在于,所述测试机,还适于将所述测试结果输出至所述芯片承载台;
所述芯片承载台还适于在接收到所述测试结果时,根据所述测试结果将所述所测LCD驱动芯片进行分类或标记。
4.如权利要求1所述的LCD驱动芯片的测试系统,其特征在于,所述LCD驱动芯片包括时钟信号输入端,所述时钟信号输入端与所述测试机的时钟信号输出端耦接;所述测试机,适于根据向所述所测LCD驱动芯片输出时钟信号的时刻点,对接收到的所述所测LCD驱动芯片输出的波形进行同步。
5.如权利要求1~4任一项所述的LCD驱动芯片的测试系统,其特征在于,所述芯片承载台包括以下任一种:机械手、探针台。
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