[发明专利]LCD驱动芯片的测试系统及方法

说明书

一种LCD驱动芯片的测试系统及方法，所述测试系统包括：芯片承载台以及测试机，其中：所述芯片承载台，与所述测试机耦接，适于承载所测LCD驱动芯片；所述测试机，与所述所测LCD驱动芯片耦接，适于向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令，以设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式；在所述实际工作模式下，接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形，依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，获取每帧波形的比较结果；将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果。上述方案能够提高LCD驱动芯片测试的准确度及测试效率。

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种LCD驱动芯片的测试系统及方法。

背景技术

目前，液晶屏显示器(Liquid Crystal Display，LCD)已经广泛应用于数码产品领域，与之配套的LCD驱动芯片的需求量也大幅度增加。LCD驱动芯片的测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中，是保证驱动芯片品质的重要手段。

现有技术中，在对LCD驱动芯片进行测试时，通常是将LCD驱动芯片的波形所对应的显示器图形通过模拟器进行显示，测试人员通过示波器观察LCD显示驱动芯片的输出波形或模拟器的显示界面，并与理论上的仿真波形进行比对，来验证LCD驱动芯片的功能是否符合要求。

然而，现有的LCD驱动芯片测试方法易受测试人员的主观因素影响，测试准确度较差。此外，通过人工观察芯片的输出波形存在测试效率较低的问题。

发明内容

本发明实施例解决的技术问题是如何提高LCD驱动芯片测试的准确度及测试效率。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种LCD驱动芯片的测试系统，包括：芯片承载台以及测试机，其中：所述芯片承载台，与所述测试机耦接，适于承载所测LCD驱动芯片；所述测试机，与所述所测LCD驱动芯片耦接，适于向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令，以设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式；在所述实际工作模式下，接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形，依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，获取每帧波形的比较结果；将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下所述每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果。

可选的，所述测试机，将每帧波形在第j个状态下的电压值V_j与预设的第一电压阈值V_i1和第二电压阈值V_i2进行比较，当V_j＞V_i1时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第一状态码；当V_j＜V_i2时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第二状态码；其中，V_i＞V_i1＞V_i2＞V_i+1，1≤i≤n-1，V_i为第i个档位对应的电压值，V_i+1为第i+1个档位对应的电压值，n为根据预设的理论波形电压值所划分出的档位数目，且i、n均为整数；每帧波形在每一个状态下对应的所述第一状态码以及所述第二状态码的集合为所述每帧波形的比较结果。

可选的，所述测试机，还适于接收所述所测LCD驱动芯片输出的偏置电压，并将所述偏置电压与所述实际工作模式下的预设偏置电压门限值进行比较，获取偏置电压的比较结果；所述测试机输出测试结果，所述测试结果包括：所述所有帧波形的比较结果，以及所述偏置电压的比较结果。

可选的，所述测试机，还适于将所述测试结果输出至所述芯片承载台；所述芯片承载台还适于在接收到所述测试结果时，根据所述测试结果将所述所测LCD驱动芯片进行分类或标记。