[发明专利]半导体存储设备以及包括其的存储系统有效
申请号: | 201710009492.4 | 申请日: | 2017-01-06 |
公开(公告)号: | CN107017029B | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 李浩俊 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张泓 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 存储 设备 以及 包括 存储系统 | ||
1.一种半导体存储设备,包括:
正常存储块,包括多个正常存储单元;
冗余存储块,包括多个冗余存储单元,其中,所述多个冗余存储单元被配置为代替正常存储单元当中的缺陷单元;
正常缓冲块,被配置为读出并放大存储在正常存储块中的正常数据;
冗余缓冲块,被配置为读出并放大存储在冗余存储块中的冗余数据,所述冗余缓冲块包括多个冗余缓冲器;
正常锁存块,被配置为基于正常控制信号从正常缓冲块取得正常数据并存储所述正常数据;以及
冗余锁存块,包括多个冗余锁存器,每个冗余锁存器被配置为当所述冗余锁存器被指派为活动冗余锁存器时,基于冗余控制信号选择性地从多个冗余缓冲器之中的相应一个冗余缓冲器取得冗余数据并存储所述冗余数据,所述活动冗余锁存器是所述多个冗余锁存器中与连接到修复单元的位线对应的一个冗余锁存器。
2.如权利要求1所述的半导体存储设备,还包括:
控制电路,被配置为产生正常控制信号和冗余控制信号;以及
一次性可编程(OTP)存储器,被配置为存储修复信号。
3.如权利要求1所述的半导体存储设备,其中,控制电路包括:
控制信号产生电路,被配置为产生对于正常锁存块的正常控制信号;以及
逻辑门,被配置为通过对正常控制信号和修复信号执行逻辑运算来产生冗余控制信号。
4.如权利要求3所述的半导体存储设备,其中:
OTP存储器被配置为基于半导体存储设备的测试来存储修复信号,其中,所述修复信号指示包括在冗余锁存块中的多个冗余锁存器当中、被指派给与修复单元连接的位线的冗余锁存器。
5.如权利要求4所述的半导体存储设备,其中,
正常缓冲块包括多个正常缓冲器,
正常锁存块包括多个正常锁存器,其中,所述正常锁存器之中的每一个被配置为基于正常控制信号来存储来自正常缓冲器之中的对应正常缓冲器的数据。
6.如权利要求3所述的半导体存储设备,还包括:
电路,被配置为基于缺陷地址和列地址来输出控制信号;以及
复用器,被配置为基于控制信号来选择正常锁存块和冗余锁存块之一。
7.如权利要求6所述的半导体存储设备,其中,缺陷地址是存储在OTP存储器列地址中的信号,其中,所述信号指示缺陷单元之一的列地址。
8.如权利要求3所述的半导体存储设备,其中,逻辑门包括:
与门,被配置为对正常控制信号和修复信号执行与运算。
9.如权利要求1所述的半导体存储设备,其中,
所述多个冗余锁存器包括活动冗余锁存器和未活动冗余锁存器,
冗余控制信号指定活动冗余锁存器,并且
未活动冗余锁存器被配置为不从所述对应冗余缓冲器接收并存储数据。
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