[发明专利]基板检测装置、显示面板加工系统及显示面板加工方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示装置的制造领域，尤其涉及一种基板检测装置、显示面板加工系统及显示面板加工方法。

背景技术

在薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)和有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)等平面显示器的显示面板生产过程中，作为基板的玻璃常因工艺或来料异常干扰而产生破片等瑕疵，若无法及时发现玻璃的上述瑕疵会造成成品率降低，因此需要对基板的生产质量进行检测，以发现基板中有无出现破片的状况。在现有的生产技术中，主要通过图像型的检测方式或者光电型的检测方式来发现破片。

图像型的检测方式是通过背光源照射基板，再通过电荷耦合元件(Charge-coupled Device，CCD)图像传感器接收基板的实时图像，通过比较实时图像的灰度值与正常基板图像的灰度值，来确定是否存在破片，具体地，图像型检测装置通过两个CCD图像传感器固定式架设于玻璃基板传送方向的左右两侧，通过高速的动态图像捕捉机制扫描整片玻璃基板的两侧区域(一般20mm宽)，其缺点是成本较高，且只能检测玻璃两边边缘存在的缺陷。

而光电型的检测方式则是通过光线发射装置向待检测的基板发射光线，再通过光线传感器接收从基板反射的光线，通过检测反射光线的强度变化，作为判断基板是否存在破裂。如图1-2所示，现有一种光电型基板检测装置是在基板100安置位置的角落处安装光电感应设备以检测基板100角落的缺陷，对卡夹载具200中的多片基板100进行破片检查，其中该多片基板100面对面地从下往上排列于该卡夹载具200中，该光电型基板检测装置对应每一层基板100的左右两侧均设有两组检测单元510，其中，每一检测单元510包括产生光波的光波发生部件511及与所述光波发生部件511匹配的光波接收部件512，光波发生部件511与光波接收部件512又分别相对地设于相应基板100的前后两侧。因此，在实际显示面板生产线中，该光电型基板检测装置只能检测基板100的四个角落区域，不能对基板100进行全面检测，导致一部分基板100破片后也未被检出而投入主制程设备当中，这必然会影响主制程设备，破片的基板100进入主制程设备后不容易处理，保养时间较长，从而降低了主制程设备的嫁动率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基板检测装置，可对多层基板依次进行检测，且检测单元检测范围广，能够实现对破片基板的全面拦捡，用于显示面板的生产线中，可防止破片的基板进入主制程设备中，从而避免影响机台的嫁动率。

本发明的目的还在于提供一种显示面板加工系统，基板检测装置能够实现对破片基板的全面拦捡，可防止破片的基板进入主制程设备中，从而避免影响机台的嫁动率。

本发明的目的还在于提供一种显示面板加工方法，基板检测装置能够实现对破片基板的全面拦捡，可防止破片的基板进入主制程设备中，从而避免影响机台的嫁动率。

为实现上述目的，本发明提供一种基板检测装置，用于检测一卡夹载具中的多片基板是否出现破片，其中该多片基板相互平行地从下往上排列于该卡夹载具中；该基板检测装置包括两组检测单元；

每一组检测单元均包括产生光波的光波发生部件、及与所述光波发生部件匹配的光波接收部件；

所述两组检测单元中，一组检测单元的光波发生部件、光波接收部件分别对应所述基板两相对侧边的两侧设置，另外一组检测单元的光波发生部件、光波接收部件分别对应所述基板另外两相对侧边的两侧设置；每一组检测单元的检测范围覆盖所述基板上其所对应的两侧边；

所述检测单元为导轨式，所述检测单元通过上下移动对该多片上下排列的基板依次进行检测。

所述的基板检测装置还包括对应基板四个角设置的四根竖直的支撑柱，每一光波发生部件的两端分别滑动连接于对应的两支撑柱上，每一光波接收部件的两端分别滑动连接于对应的两支撑柱上。

每一组检测单元还包括与所述光波接收部件连接的结果输出部件。

所述结果输出部件为与同所述卡夹载具协同工作的机械臂相连接的控制装置，所述控制装置根据检测结果以及预置策略控制所述机械臂动作。

本发明还提供一种显示面板加工系统，包括用于对基板进行加工的主制程设备、设置于主制程设备一侧对基板进行搬运的机械臂、设置于主制程设备一侧在对基板进行加工前对基板进行检测的基板检测装置、及用于承载多片基板并将该多片基板相互平行地从下往上排列的卡夹载具；

所述基板检测装置包括两组检测单元；